[發(fā)明專利]FPGA上電復(fù)位過程的存儲單元讀寫檢測系統(tǒng)及方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610549989.0 | 申請日： | 2016-07-13 |
| 公開（公告）號： | CN106155857B | 公開（公告）日： | 2018-06-22 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 耿楊;徐玉婷;閆華 | 申請（專利權(quán)）人： | 無錫中微億芯有限公司 |
| 主分類號： | G06F11/267 | 分類號： | G06F11/267;G11C11/417;H03K17/28 |
| 代理公司： | 南京經(jīng)緯專利商標(biāo)代理有限公司 32200 | 代理人： | 朱小兵 |
| 地址： | 214000 江蘇省*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 上電復(fù)位 讀寫 測試存儲單元 存儲單元讀寫 存儲單元 檢測系統(tǒng) 配置過程 右上角 右下角 中芯片 下角 芯片 檢測 | ||
【權(quán)利要求書】：
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