[發明專利]緯二重全遮蓋提花織物及其織造方法

有效

• 申請號: 201610546343.7
• 申請日: 2016-07-08
• 公開（公告）號: CN105926139B
• 公開（公告）日: 2018-01-02
• 發明（設計）人: 周赳;白琳琳
• 申請（專利權）人: 浙江理工大學
• 主分類號: D03D21/00
• 分類號: D03D21/00;D03D13/00;D03D23/00
• 代理公司: 紹興市越興專利事務所(普通合伙)33220
• 代理人: 蔣衛東

技術領域

本發明涉及一種緯二重全遮蓋提花織物及其織造方法，屬于織造方法技術領域。

背景技術

緯重結構提花織物是傳統提花織物的典型品種，受裝造和結構設計方法的限制，傳統緯重提花織物設計效率低下、色彩表現單一，不能適應紡織品快時尚對產品個性化的需求。

基于此，做出本申請。

發明內容

為了克服傳統緯重提花織物結構單一、設計效率低、色彩表現力不佳等缺陷，本申請首先提供一種能夠滿足織物表層緯紗(即表緯)影光漸變且全遮蓋里緯的緯二重全遮蓋提花織物，織物表緯對里緯具有全遮蓋的效果，滿足全遮蓋技術要求的同時，也滿足組織點交織平衡的技術要求，可大批量生產。

為實現上述目的，本申請采取的技術方案如下：

緯二重全遮蓋提花織物，由表組織和里組織各自的緯紗與經紗交織循環而成，緯二重全遮蓋提花織物兩個系統的緯紗(即緯二重兩組緯分別參與漸變顯色)同時漸變顯色，且表緯漸變并全遮蓋里緯，漸變最大顯色組織數為[(N-J)+(N-3)(N-1)]×2，漸變級別數≤最大顯色組織數，其中，N為組織循環數，J為一個組織循環內一根緯紗上的全遮蓋技術點數。

進一步的，作為優選：

所述的表組織與里組織的組織循環數成整倍數關系。

一個循環中，所述的表緯的緯浮長或緯浮點數大于里緯的緯浮長或緯浮點數。

上述緯二重全遮蓋提花織物以影光組織為基礎，通過設定全遮蓋技術點，采用變化影光組織的設計方法和組合法，實現提花織物結構中表緯對里緯全遮蓋的技術要求，使結構中表緯影光漸變且能達到全遮蓋里緯的效果。應用該發明，可以準確的計算出織物表面的最大漸變顯色數值，并可以通過簡便有效的驗證方法對全遮蓋結果進行驗證，在織物設計生產中的應用極為方便。

同時，具有上述特征緯二重全遮蓋提花織物的織造方法具體為：

(1)緯二重全遮蓋結構表組織和里組織的設計

緯二重全遮蓋組織設計包括表組織設計和里組織設計，全遮蓋組織設計根據不同織物的設計要求，選擇所需的不同組織，

①選擇所需的表組織A和里組織B，表組織和里組織的有效選擇范圍為原組織中的斜紋或者緞紋，經、緯組織循環數相同為N，N在5到48之間，對應的組織循環在5×5到48×48之間；

②表組織A和里組織B的組織循環數成整倍數關系，一個組織循環內表緯的緯浮長或緯浮點數要大于里緯的緯浮長或緯浮點數；

(2)全遮蓋技術點的設計

①根據里組織B的組織特征，對表組織A進行全遮蓋技術點(類似一種組織)的設定，方法是將里組織B的緯點向上沿經向加強1；

②在不破壞全遮蓋技術點的情況下設計一組表層影光組織，為了不切斷緯浮長而影響織物表面顯色效果采用橫向過渡加強組織點，

當M＝N時，顯色組織的數目最小，為(N-J)個，

當M＝1時，顯色組織的數目最大，為(N-J)+(N-3)(N-1)個，

N表示組織循環數，M為影光組織組織點加強數，J為一個組織循環內一根緯紗上的全遮蓋技術點數；

(3)緯二重全遮蓋結構表組織和里組織的應用組合

①根據設計要求選擇計算機數碼圖案，所設計的計算機數碼圖案是位圖模式，圖案題材不限，數碼圖案由兩種色彩構成，在每個色彩上再進行影光漸變設計，影光漸變的級別數要小于或等于最大顯色組織數，形成具有兩種影光漸變效果的數碼圖案，數碼圖案最大的色彩數為[(N-J)+(N-3)(N-1)]×2，兩種漸變色效果在數碼圖案中不能形成重疊；

②確定甲緯、乙緯沿緯向1：1交替排列，在甲緯與經紗的交織位置繪制表組織，在乙緯與經紗的交織位置繪制里組織B，得到甲緯顯色的緯二重全遮蓋提花織物組合結構圖；

③確定甲緯、乙緯沿緯向1：1交替排列，在甲緯與經紗的交織位置繪制里組織B，在乙緯與經紗的交織位置繪制表組織，此時遮蓋順序產生變化，里組織B需調序，將里組織B的最后一緯移至第一緯，得到里組織C，在甲緯與經紗的交織位置繪制里組織C，得到乙緯顯色的緯二重全遮蓋提花織物組合結構圖；

④將緯二重數碼圖案中的兩種漸變色分別對應甲緯與經紗在織物表面交織表層組織庫、乙緯與經紗在織物表面交織表層組織庫，計算機處理后通過一一對應的方法將每種漸變色與對應的組合結構進行替換。

(4)根據全遮蓋特征，緯二重全遮蓋提花織物結構的最大顯色能力與基礎組織循環成正比，最大顯色數目為：[(N-J)+(N-3)(N-1)]×2，N表示組織循環數，J為一個組織循環內一根緯紗上的全遮蓋技術點數；

(5)檢驗方法