[發明專利]顆粒物傳感器及其測量方法有效
| 申請號: | 201610544526.5 | 申請日: | 2016-07-12 |
| 公開(公告)號: | CN106872321B | 公開(公告)日: | 2021-12-28 |
| 發明(設計)人: | 梁尚爀;金東求 | 申請(專利權)人: | 現代自動車株式會社 |
| 主分類號: | G01N15/06 | 分類號: | G01N15/06;F01N11/00 |
| 代理公司: | 北京尚誠知識產權代理有限公司 11322 | 代理人: | 龍淳;岳磊 |
| 地址: | 韓國*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 顆粒 傳感器 及其 測量方法 | ||
1.一種測量顆粒物的方法,包括以下步驟:
通過基準電極測量第一電容值;
通過主電極測量第二電容值;
通過信號處理器接收所述第一電容值和所述第二電容值;以及
通過使用輸入至所述信號處理器的所述第一電容值和第二電容值生成最終輸出電壓,
其中,生成最終輸出電壓的步驟包括:
通過使用所述第一電容值的第一電容變化值、因噪聲引起的電容值和施加電壓來生成第一輸出電壓;
通過使用所述第二電容值的第二電容變化值、因噪聲引起的電容值和施加電壓來生成第二輸出電壓;以及
根據所述第一輸出電壓與所述第二輸出電壓之間的差值來生成最終輸出電壓。
2.根據權利要求1所述的方法,其中,在通過主電極測量第二電容值的步驟中,所述第二電容值隨累積到在主電極上形成的絕緣層的顆粒物而改變。
3.根據權利要求1所述的方法,還包括以下步驟:
通過位于所述基準電極與所述主電極之間的加熱電極燃燒在所述主電極上的絕緣層累積的顆粒物。
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