[發(fā)明專利]一種用于金剛線多晶硅片的噴砂裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610542253.0 | 申請日: | 2016-07-11 |
| 公開(公告)號: | CN106003441B | 公開(公告)日: | 2017-09-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李名揚(yáng);王猛;韓震峰;雷深皓;華永云;俞忠達(dá);陳永勝 | 申請(專利權(quán))人: | 北京創(chuàng)世捷能機(jī)器人有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/302 | 分類號: | H01L21/302;H01L21/304;B24C3/02;B24C3/00;B28D5/00;B28D5/04 |
| 代理公司: | 北京君恒知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙)11466 | 代理人: | 張效榮,林潮 |
| 地址: | 100160 北京市豐臺區(qū)南四環(huán)西*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 用于 金剛 多晶 硅片 噴砂 裝置 | ||
1.一種用于金剛線多晶硅片的噴砂裝置,其特征在于包括:支架系統(tǒng)、定位系統(tǒng)、傳動系統(tǒng)、噴砂系統(tǒng)和砂漿系統(tǒng);其中:
定位系統(tǒng)設(shè)置在傳動系統(tǒng)上,包括至少一個真空載臺、至少一個真空源和至少一個真空管;真空載臺的上端面設(shè)置有通孔,真空載臺的上端面用于承載金剛線多晶硅片;真空載臺通過真空管可拆卸地與真空源連通;
傳動系統(tǒng)設(shè)置在支架系統(tǒng)上,用于驅(qū)動真空載臺進(jìn)出支架系統(tǒng);
傳動系統(tǒng)包括:傳動軌道、驅(qū)動單元和傳動鏈;其中,
傳動軌道可拆卸地設(shè)置在支架系統(tǒng)上,用于承載真空載臺、并限定真空載臺進(jìn)出支架系統(tǒng)的軌跡;
傳動鏈與驅(qū)動單元連接,其行進(jìn)方向與傳動軌道平行,傳動鏈上設(shè)置有限位齒;傳動鏈運(yùn)動過程中限位齒驅(qū)動真空載臺沿著傳動軌道的方向進(jìn)出支架系統(tǒng);
噴砂系統(tǒng)設(shè)置在支架系統(tǒng)內(nèi)、并與砂漿系統(tǒng)連接,用于將砂漿系統(tǒng)中的磨液噴涂到金剛線多晶硅片的表面;
噴砂系統(tǒng)的噴槍能夠沿著垂直于真空載臺運(yùn)動的方向往復(fù)運(yùn)動。
2.如權(quán)利要求1所述的噴砂裝置,其特征在于,傳動軌道上均勻間隔地設(shè)置有垂直于所述傳動軌道的滾動體。
3.如權(quán)利要求1所述的噴砂裝置,其特征在于,傳動系統(tǒng)進(jìn)一步包括:推送單元和傳感器;
推送單元設(shè)置在傳動軌道上,用于承載待處理的真空載臺;
傳感器設(shè)置在傳動軌道的進(jìn)入端;
當(dāng)傳感器檢測到限位齒時,推送單元將待處理的真空載臺推送到傳動軌道的進(jìn)入端,利用該限位齒驅(qū)動真空載臺沿著傳動軌道的方向進(jìn)出支架系統(tǒng)。
4.如權(quán)利要求1所述的噴砂裝置,其特征在于,真空載臺上端面的通孔的數(shù)量為一個、兩個或更多個;當(dāng)真空載臺上端面設(shè)置有至少兩個通孔時,所述至少兩個通孔均勻分布。
5.如權(quán)利要求1所述的噴砂裝置,其特征在于,通孔的橫截面為由弧線和/或線段組成的封閉圖形。
6.如權(quán)利要求1所述的噴砂裝置,其特征在于,每個真空載臺包括至少一個承載區(qū),每個承載區(qū)承載一個金剛線多晶硅片;和/或與每個真空源對應(yīng)的真空載臺的數(shù)量至少為一個。
7.如權(quán)利要求1所述的噴砂裝置,其特征在于,噴砂裝置的靶距滿足如下關(guān)系:
式中,S為加工面積,單位為mm2;R為噴槍出液口的半徑,單位為mm;μ為靶距變換系數(shù),單位為1/mm,μ的取值為0-50/mm;L為靶距,單位為mm;β為噴槍出液口散射角度,單位為rad;VS為橫向基礎(chǔ)加工速率,單位為mm2/s; t為加工時間,單位為s。
8.根據(jù)權(quán)利要求1至7中任一項(xiàng)所述的噴砂裝置在對于金剛線多晶硅片進(jìn)行噴砂中的應(yīng)用。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





