[發(fā)明專利]失鎖偵測裝置、失鎖偵測方法及時脈數(shù)據(jù)回復(fù)電路

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201610541515.1
• 申請日: 2016-07-11
• 公開（公告）號: CN107612547B
• 公開（公告）日: 2020-10-02
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 陳昱竹;康文柱;吳正宏
• 申請（專利權(quán)）人: 創(chuàng)意電子股份有限公司;臺灣積體電路制造股份有限公司
• 主分類號: H03L7/18
• 分類號: H03L7/18
• 代理公司: 北京律誠同業(yè)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11006
• 代理人: 徐金國

一種失鎖偵測裝置、失鎖偵測方法及時脈數(shù)據(jù)回復(fù)電路。此失鎖偵測裝置包含校驗器、累加器以及比較器。校驗器電性連接至累加器，且累加器電性連接至比較器。校驗器包含多個校驗單元，且此校驗器用以接收數(shù)據(jù)取樣信號與邊緣取樣信號，并透過校驗單元分別對數(shù)據(jù)取樣信號與邊緣取樣信號進行校驗而產(chǎn)生多個校驗結(jié)果。累加器用以依據(jù)校驗結(jié)果而進行計數(shù)，據(jù)以產(chǎn)生計數(shù)值。比較器用以比較計數(shù)值與門檻值而產(chǎn)生失鎖偵測結(jié)果。因此，本發(fā)明所揭示的失鎖偵測裝置不僅可以有效地避免時脈數(shù)據(jù)回復(fù)電路鎖定于錯誤的取樣頻率，更可以直接地設(shè)置于時脈數(shù)據(jù)回復(fù)電路中，不須額外設(shè)置用以產(chǎn)生參考時脈信號的產(chǎn)生電路，從而大幅地縮小時脈數(shù)據(jù)回復(fù)電路的面積。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明是關(guān)于一種偵測裝置、偵測方法及數(shù)據(jù)處理電路，特別是關(guān)于一種失鎖偵測裝置、失鎖偵測方法及時脈數(shù)據(jù)回復(fù)電路。

背景技術(shù)

隨著信號傳輸技術(shù)的快速發(fā)展，對于接收信號的還原精準度的重視日漸增加。為了精準地還原接收信號，目前多數(shù)的做法會于接收端中設(shè)置時脈數(shù)據(jù)回復(fù)(Clock andData Recovery，CDR)電路以提升接收信號的還原效果。

然而，當(dāng)時脈數(shù)據(jù)回復(fù)電路運作于錯誤的取樣頻率時，接收信號的還原效果將會大幅地降低。為了避免上述情形，通常會于時脈數(shù)據(jù)回復(fù)電路中設(shè)置失鎖偵測裝置以依據(jù)參考時脈信號進行取樣頻率的失鎖偵測。盡管失鎖偵測裝置可以有效地避免時脈數(shù)據(jù)回復(fù)電路運作于錯誤的取樣頻率，但為了產(chǎn)生參考時脈信號而對應(yīng)地設(shè)置的電路卻可能導(dǎo)致時脈數(shù)據(jù)回復(fù)電路的面積的增加，如此，明顯地與目前縮小電路面積的趨勢背道而馳。

因此，如何在兼顧維持失鎖偵測功能與縮小時脈數(shù)據(jù)回復(fù)電路面積的前提下而進行失鎖偵測裝置的設(shè)計，可是一大挑戰(zhàn)。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明揭示的一方面是關(guān)于一種失鎖偵測裝置，此失鎖偵測裝置包含校驗器、累加器以及比較器。校驗器電性連接至累加器，且累加器電性連接至比較器。校驗器包含多個校驗單元，且此校驗器用以接收數(shù)據(jù)取樣信號與邊緣取樣信號，并透過校驗單元分別對數(shù)據(jù)取樣信號與邊緣取樣信號進行校驗而產(chǎn)生多個校驗結(jié)果。累加器用以依據(jù)校驗結(jié)果而進行計數(shù)，據(jù)以產(chǎn)生計數(shù)值。比較器用以比較計數(shù)值與門檻值而產(chǎn)生失鎖偵測結(jié)果。

在一個或多個實施方式中，每一校驗單元對數(shù)據(jù)取樣信號中的第一數(shù)據(jù)取樣信號與第二數(shù)據(jù)取樣信號進行反互斥或運算而產(chǎn)生第一輸出，每一校驗單元對第二數(shù)據(jù)取樣信號與邊緣取樣信號中的第一邊緣取樣信號進行互斥或運算而產(chǎn)生第二輸出，每一校驗單元對第一輸出與第二輸出進行及運算，據(jù)此產(chǎn)生校驗結(jié)果。

在一個或多個實施方式中，每一校驗單元包含與門、反互斥或門以及互斥或門。與門電性連接至累加器。反互斥或門電性連接至與門，且反互斥或門用以接收數(shù)據(jù)取樣信號中的第一數(shù)據(jù)取樣信號與第二數(shù)據(jù)取樣信號。互斥或門電性連接至與門，且互斥或門用以接收數(shù)據(jù)取樣信號中的第二數(shù)據(jù)取樣信號與邊緣取樣信號中的第一邊緣取樣信號。另外，互斥或門并聯(lián)于反互斥或門。

在一個或多個實施方式中，計數(shù)值為非負整數(shù)。當(dāng)計數(shù)值大于門檻值時，失鎖偵測裝置判定失鎖發(fā)生；當(dāng)計數(shù)值小于或等于門檻值時，失鎖偵測裝置判定失鎖未發(fā)生。

在一個或多個實施方式中，失鎖偵測裝置還包含抹除器，且抹除器電性連接至比較器。抹除器用以抹除比較器所產(chǎn)生的失鎖偵測結(jié)果。

本發(fā)明揭示的另一方面是關(guān)于一種失鎖偵測方法，此失鎖偵測方法包含以下步驟：接收數(shù)據(jù)取樣信號與邊緣取樣信號；依據(jù)數(shù)據(jù)取樣信號與邊緣取樣信號而進行校驗，據(jù)以產(chǎn)生多個校驗結(jié)果；依據(jù)校驗結(jié)果而進行計數(shù)，據(jù)以產(chǎn)生計數(shù)值；以及將計數(shù)值與門檻值進行比較而產(chǎn)生失鎖偵測結(jié)果。

在一個或多個實施方式中，依據(jù)數(shù)據(jù)取樣信號與邊緣取樣信號而進行校驗，據(jù)以產(chǎn)生校驗結(jié)果的步驟包含：擷取數(shù)據(jù)取樣信號中的第一數(shù)據(jù)取樣信號與第二數(shù)據(jù)取樣信號以及邊緣取樣信號中的第一邊緣取樣信號；依據(jù)第一數(shù)據(jù)取樣信號、第一邊緣取樣信號以及第二數(shù)據(jù)取樣信號而產(chǎn)生第一輸出與第二輸出；以及依據(jù)第一輸出與第二輸出而產(chǎn)生校驗結(jié)果。