[發明專利]基于原位透射電子顯微鏡的納米材料交流電學性能測試裝置及方法有效
| 申請號： | 201610539948.3 | 申請日： | 2016-07-08 |
| 公開（公告）號： | CN106124543B | 公開（公告）日： | 2019-04-09 |
| 發明（設計）人： | 孫立濤;馬青;董輝;張秋波;徐濤;蘇適 | 申請（專利權）人： | 東南大學 |
| 主分類號： | G01N23/22 | 分類號： | G01N23/22;G01N23/2202;G01N23/2206;G01N27/02;G01N27/22;G01N1/28 |
| 代理公司： | 南京瑞弘專利商標事務所(普通合伙) 32249 | 代理人： | 楊曉玲 |
| 地址： | 211103 江蘇省*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 基于 原位 透射 電子顯微鏡 納米 材料 交流 電學 性能 測試 裝置 方法 | ||
【說明書】：
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