[發(fā)明專利]一種微帶測試納米薄膜微波電磁參數(shù)裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610539649.X | 申請日： | 2016-07-11 |
| 公開（公告）號： | CN106018973B | 公開（公告）日： | 2018-10-19 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 肖芬;張俊明;陳先言;李學(xué)漪;柳清伙;劉海 | 申請（專利權(quán)）人： | 廈門大學(xué) |
| 主分類號： | G01R27/26 | 分類號： | G01R27/26;G01R33/12 |
| 代理公司： | 廈門南強之路專利事務(wù)所(普通合伙) 35200 | 代理人： | 馬應(yīng)森 |
| 地址： | 361005 *** | 國省代碼： | 福建;35 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 微帶 測試 納米 薄膜 微波 電磁 參數(shù) 裝置 | ||
【說明書】：
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