[發(fā)明專利]一種DRAM晶圓測(cè)試中精確捕獲失效地址的方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201610532504.7 | 申請(qǐng)日： | 2016-07-06 |
| 公開(kāi)（公告）號(hào)： | CN106169311A | 公開(kāi)（公告）日： | 2016-11-30 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 王帆;黃華 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 西安紫光國(guó)芯半導(dǎo)體有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào)： | G11C29/18 | 分類(lèi)號(hào)： | G11C29/18 |
| 代理公司： | 西安通大專利代理有限責(zé)任公司 61200 | 代理人： | 李宏德 |
| 地址： | 710075 陜西省西安*** | 國(guó)省代碼： | 陜西;61 |
| 權(quán)利要求書(shū)： | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū)： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 dram 測(cè)試 精確 捕獲 失效 地址 方法 | ||
【權(quán)利要求書(shū)】：
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G11C29-04 .損壞存儲(chǔ)元件的檢測(cè)或定位
G11C29-52 .存儲(chǔ)器內(nèi)量保護(hù)；存儲(chǔ)器內(nèi)量中的錯(cuò)誤檢測(cè)
G11C29-54 .設(shè)計(jì)檢測(cè)電路的裝置，例如，可測(cè)試性設(shè)計(jì)
G11C29-56 .用于靜態(tài)存儲(chǔ)器的外部測(cè)試裝置，例如，自動(dòng)測(cè)試設(shè)備
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