[發明專利]非接觸式超聲波法局部放電檢測儀的考核校驗裝置及方法在審
| 申請號： | 201610528116.1 | 申請日： | 2016-06-30 |
| 公開（公告）號： | CN105954698A | 公開（公告）日： | 2016-09-21 |
| 發明（設計）人： | 陳偉中;樓狄;張武波;曹超;劉鳳琳;陳云鵬;杜合;胡志鵬;厲洋;葉新林;王光祥 | 申請（專利權）人： | 杭州西湖電子研究所 |
| 主分類號： | G01R35/00 | 分類號： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 杭州君度專利代理事務所(特殊普通合伙) 33240 | 代理人： | 杜軍 |
| 地址： | 311121 浙江省杭州*** | 國省代碼： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 接觸 超聲波 局部 放電 檢測 考核 校驗 裝置 方法 | ||
【權利要求書】：
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