[發明專利]一種芯片參數測試系統有效
| 申請號： | 201610523368.5 | 申請日： | 2016-07-05 |
| 公開（公告）號： | CN106226676A | 公開（公告）日： | 2016-12-14 |
| 發明（設計）人： | 張健 | 申請（專利權）人： | 南通富士通微電子股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/28 | 分類號： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳市威世博知識產權代理事務所(普通合伙)44280 | 代理人： | 何青瓦 |
| 地址： | 226001 江*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 芯片 參數 測試 系統 | ||
【權利要求書】：
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