[發(fā)明專利]一種電子元器件電極老化裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201610517660.6
• 申請日: 2016-07-05
• 公開（公告）號: CN107576861A
• 公開（公告）日: 2018-01-12
• 發(fā)明（設計）人: 侯悅
• 申請（專利權(quán)）人: 侯悅
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發(fā)明屬于電子元件老化技術領域，特涉及一種電子元器件電極老化裝置。

背景技術

目前，現(xiàn)有技術的結(jié)構(gòu)再重復使用過程中經(jīng)常發(fā)生接觸不良和裝置損壞的情況，造成產(chǎn)品虛老化率高和老化裝置故障率高的現(xiàn)象。

發(fā)明內(nèi)容

針對現(xiàn)有技術存在的不足，本發(fā)明的目的在于一種結(jié)構(gòu)簡單、使用方便的電子元器件電極老化裝置。

本發(fā)明的技術方案為：一種電子元器件電極老化裝置，包括老化箱和老化板，所述老化箱為金屬方柜，其內(nèi)從上至下分布有多層老化架，所述老化架基座是一邊固定在金屬方柜內(nèi)側(cè)的角鋼，所述角鋼的另一邊上通過埋頭螺釘固定有絕緣層；所述老化板正面為產(chǎn)品裝載面。

本發(fā)明的優(yōu)點：

本發(fā)明具有密封性好，高強度，耐磨，耐高溫，耐腐蝕，保證老化板插拔及正常老化過程中與軌道完全接觸，不變形、不懸空，為提高產(chǎn)品的可靠性和不良品的剔除起到了保證作用。

附圖說明

下面結(jié)合附圖及實施方式對本發(fā)明作進一步詳細的說明。

圖1為本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實施方式

如圖1所示，本發(fā)明的技術方案為：一種電子元器件電極老化裝置，包括老化箱和老化板，所述老化箱為金屬方柜，其內(nèi)從上至下分布有多層老化架，所述老化架基座是一邊固定在金屬方柜內(nèi)側(cè)的角鋼，所述角鋼的另一邊上通過埋頭螺釘固定有絕緣層。

根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子元器件電極老化裝置，其特征在于，所述老化板正面為產(chǎn)品裝載面。

最后應當說明的是，以上實施例僅用于說明本發(fā)明的技術方案而非對本發(fā)明保護范圍的限制，盡管參照較佳實施例對本發(fā)明作了詳細說明，本領域的普通技術人員應當理解，可以對本發(fā)明的技術方案進行修改或者等同替換，而不脫離本發(fā)明技術方案的實質(zhì)和范圍。