[發明專利]用于晶片級器件輻射效應試驗的X射線輻照測試設備在審
| 申請號： | 201610516216.2 | 申請日： | 2016-07-04 |
| 公開（公告）號： | CN106199372A | 公開（公告）日： | 2016-12-07 |
| 發明（設計）人： | 李豫東;于新;于剛;文林;何承發;郭旗 | 申請（專利權）人： | 中國科學院新疆理化技術研究所 |
| 主分類號： | G01R31/265 | 分類號： | G01R31/265;G01R31/303 |
| 代理公司： | 烏魯木齊中科新興專利事務所 65106 | 代理人： | 張莉 |
| 地址： | 830011 新疆維吾爾*** | 國省代碼： | 新疆;65 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 用于 晶片 器件 輻射 效應 試驗 射線 輻照 測試 設備 | ||
【權利要求書】：
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