[發(fā)明專利]一種光纖檢測(cè)儀調(diào)試系統(tǒng)

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201610511821.0
• 申請(qǐng)日: 2016-06-30
• 公開（公告）號(hào): CN107562612A
• 公開（公告）日: 2018-01-09
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 鄒科穎
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 鄒科穎
• 主分類號(hào): G06F11/36
• 分類號(hào): G06F11/36
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司11332
• 代理人: 徐鵬飛

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及光纖檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種光纖檢測(cè)儀調(diào)試系統(tǒng)。

背景技術(shù)

光纖傳輸具有傳輸頻帶寬、通信容量大、損耗低、不受電磁干擾、重量輕等優(yōu)點(diǎn)，因而光纖的應(yīng)用越來越廣泛。但是光纖連接器插頭的端面粘有肉眼看不見的污物或小顆粒，都有可能導(dǎo)致光信號(hào)被隔斷，或者引起反射波對(duì)光纖造成損傷，甚至?xí)p壞光源，對(duì)整個(gè)通信系統(tǒng)造成重大損害，因此，在光纖連接器連接之前，必須對(duì)光纖連接器插芯進(jìn)行檢查。光纖端面的檢查是降低維護(hù)成本。一般采用光纖檢測(cè)儀實(shí)現(xiàn)上述功能，但是目前光纖檢測(cè)儀普遍存在檢測(cè)精度低，數(shù)據(jù)溫漂大，經(jīng)常出現(xiàn)紊亂的等問題，究其原因是對(duì)光纖檢測(cè)儀調(diào)試設(shè)備落后。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于通過一種光纖檢測(cè)儀調(diào)試系統(tǒng)，來解決以上背景技術(shù)部分提到的問題。

為達(dá)此目的，本發(fā)明采用以下技術(shù)方案：

一種光纖檢測(cè)儀調(diào)試系統(tǒng)，其包括成像系統(tǒng)調(diào)試電路、電源測(cè)試電路、圖像處理中心調(diào)試電路以及顯示系統(tǒng)調(diào)試電路；所述成像系統(tǒng)調(diào)試電路連接光纖檢測(cè)儀的圖像放大電路和圖像采集電路；所述電源測(cè)試電路連接光纖檢測(cè)儀的電源；所述圖像處理中心調(diào)試電路連接光纖檢測(cè)儀的單片機(jī)；所述顯示系統(tǒng)調(diào)試電路連接光纖檢測(cè)儀的顯示屏；所述圖像處理中心調(diào)試電路對(duì)不同質(zhì)量、純潔度的光纖完成光纖檢測(cè)儀的調(diào)試。

特別地，所述圖像數(shù)據(jù)處理中心調(diào)試電路包括MCU、存儲(chǔ)器、串行數(shù)據(jù)傳輸模塊。

特別地，所述光纖檢測(cè)儀調(diào)試系統(tǒng)還包括智能終端；所述智能終端連接圖像數(shù)據(jù)處理中心調(diào)試電路，控制調(diào)試參數(shù)。

特別地，所述智能終端選用但不限于計(jì)算機(jī)和手機(jī)。

本發(fā)明提出的光纖檢測(cè)儀調(diào)試系統(tǒng)能夠?qū)饫w檢測(cè)儀的電源、成像、圖像處理及顯示進(jìn)行全面調(diào)試，保證了光纖檢測(cè)儀出廠時(shí)的質(zhì)量。

附圖說明

圖1為本發(fā)明實(shí)施例提供的光纖檢測(cè)儀調(diào)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步說明。可以理解的是，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用于解釋本發(fā)明，而非對(duì)本發(fā)明的限定。另外還需要說明的是，為了便于描述，附圖中僅示出了與本發(fā)明相關(guān)的部分而非全部?jī)?nèi)容，除非另有定義，本文所使用的所有技術(shù)和科學(xué)術(shù)語與屬于本發(fā)明的技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員通常理解的含義相同。本文中所使用的術(shù)語只是為了描述具體的實(shí)施例，不是旨在于限制本發(fā)明。

請(qǐng)參照?qǐng)D1所示，圖1為本發(fā)明實(shí)施例提供的光纖檢測(cè)儀調(diào)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖。

實(shí)施例

一種光纖檢測(cè)儀調(diào)試系統(tǒng)其包括成像系統(tǒng)調(diào)試電路、電源測(cè)試電路、圖像處理中心調(diào)試電路以及顯示系統(tǒng)調(diào)試電路；所述成像系統(tǒng)調(diào)試電路連接光纖檢測(cè)儀的圖像放大電路和圖像采集電路；所述電源測(cè)試電路連接光纖檢測(cè)儀的電源；所述圖像處理中心調(diào)試電路連接光纖檢測(cè)儀的單片機(jī)；所述顯示系統(tǒng)調(diào)試電路連接光纖檢測(cè)儀的顯示屏；所述圖像處理中心調(diào)試電路對(duì)不同質(zhì)量、純潔度的光纖完成光纖檢測(cè)儀的調(diào)試。

所述圖像數(shù)據(jù)處理中心調(diào)試電路包括MCU、存儲(chǔ)器、串行數(shù)據(jù)傳輸模塊。

所述光纖檢測(cè)儀調(diào)試系統(tǒng)還包括智能終端；所述智能終端連接圖像數(shù)據(jù)處理中心調(diào)試電路，控制調(diào)試參數(shù)。所述智能終端選用但不限于計(jì)算機(jī)和手機(jī)。

本發(fā)明的技術(shù)方案能夠?qū)饫w檢測(cè)儀的電源、成像、圖像處理及顯示進(jìn)行全面調(diào)試，保證了光纖檢測(cè)儀出廠時(shí)的質(zhì)量。

本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解實(shí)現(xiàn)上述實(shí)施例方法中的全部或部分流程，是可以通過計(jì)算機(jī)程序來指令相關(guān)的硬件來完成，所述的程序可存儲(chǔ)于一計(jì)算機(jī)可讀取存儲(chǔ)介質(zhì)中，該程序在執(zhí)行時(shí)，可包括如上述各方法的實(shí)施例的流程。其中，所述的存儲(chǔ)介質(zhì)可為磁碟、光盤、只讀存儲(chǔ)記憶體(Read-Only Memory，ROM)或隨機(jī)存儲(chǔ)記憶體(Random Access Memory，RAM)等。

以上結(jié)合具體實(shí)施例描述了本發(fā)明的技術(shù)原理。這些描述只是為了解釋本發(fā)明的原理，而不能以任何方式解釋為對(duì)本發(fā)明保護(hù)范圍的限制。基于此處的解釋，本領(lǐng)域的技術(shù)人員不需要付出創(chuàng)造性的勞動(dòng)即可聯(lián)想到本發(fā)明的其它具體實(shí)施方式，這些方式都將落入本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。