[發明專利]一種硅片硬度測試機在審
| 申請號: | 201610511779.2 | 申請日: | 2016-06-30 |
| 公開(公告)號: | CN107560956A | 公開(公告)日: | 2018-01-09 |
| 發明(設計)人: | 崔敏娟 | 申請(專利權)人: | 崔敏娟 |
| 主分類號: | G01N3/46 | 分類號: | G01N3/46 |
| 代理公司: | 北京品源專利代理有限公司11332 | 代理人: | 張海英 |
| 地址: | 214177 江蘇省*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 硅片 硬度 測試 | ||
技術領域
本發明涉及光伏領域,尤其涉及一種硅片硬度測試機。
背景技術
目前,現有的硅片等脆性材料的硬度測試方法,包括三點彎法、高溫拉伸法等,這些方法需要設備復雜、制樣困難、實驗數據分散。由此,急需解決。
發明內容
本發明的目的在于針對上述問題,提供一種硅片硬度測試機,以解決現有測試硅片硬度的設備復雜,制樣困難,實驗數據分散的問題。
本發明的目的是通過以下技術方案來實現:
一種硅片硬度測試機,所述底座,所述底座上端面的中間處設置有用于承載硅片的底板,且底座上設置有門字形結構的框架,所述框架可前后移動的設置于底座上,所述框架的橫梁上可上下移動的設置有裝夾機構,所述裝夾機構由驅動裝置驅動,所述裝夾機構上可拆卸的安裝有鉛筆。
作為本發明的一種優選方案,所述框架的橫梁上設置有帶動裝夾機構移動的第一氣缸。
作為本發明的一種優選方案,所述底座上沿前后方向布置有滑軌,所述框架上設置有與滑軌相配合的滑塊,底座上設置有用于帶動框架滑移的第二氣缸。
作為本發明的一種優選方案,所述裝夾機構包括固定筒,所述固定筒的軸向開有與鉛筆相配合的固定孔,且固定筒的側壁上開有鎖緊螺紋孔,所述鎖緊螺紋孔上螺紋連接有用于頂緊鉛筆的鎖緊螺栓。
本發明的有益效果為,所述一種硅片硬度測試機通過裝夾機構固定鉛筆,拆裝方便,且通過框架帶動鉛筆前后移動,進而可使得鉛筆在硅片表面劃動,從而可測試出硅片的硬度,結構簡單、易于實現。
附圖說明
圖1為本發明一種硅片硬度測試機的結構示意圖。
圖中:
1、底座;2、底板;3、框架;4、滑軌;5、橫梁;6、第一氣缸;7、固定筒;8、鎖緊螺栓。
具體實施方式
下面結合附圖并通過具體實施方式來進一步說明本發明的技術方案。可以理解的是,此處所描述的實施例僅僅用于解釋本發明,而非對本發明的限定。
請參照圖1所示,圖1為本發明一種硅片硬度測試機的結構示意圖。
于本實施例中,一種硅片硬度測試機,所述底座1,所述底座1上端面的中間處設置有用于承載硅片的底板2,且底座1上設置有門字形結構的框架3,底座1上沿前后方向布置有滑軌4,所述框架3上設置有與滑軌4相配合的滑塊,底座1上設置有用于帶動框架3前后移動的第二氣缸,所述框架3的橫梁5上可上下移動的設置有裝夾機構,所述框架3的橫梁5上設置有帶動裝夾機構移動的第一氣缸6,所述裝夾機構包括固定筒7,所述固定筒7的軸向開有與鉛筆相配合的固定孔,且固定筒7的側壁上開有鎖緊螺紋孔,所述鎖緊螺紋孔上螺紋連接有用于頂緊鉛筆的鎖緊螺栓8。
所述一種硅片硬度測試機通過裝夾機構固定鉛筆,拆裝方便,且通過框架3帶動鉛筆前后移動,進而可使得鉛筆在硅片表面劃動,能夠劃出劃痕的鉛筆硬度即為硅片的硬度,從而可方便測試出硅片的硬度,結構簡單、易于實現。
以上實施例只是闡述了本發明的基本原理和特性,本發明不受上述實施例限制,在不脫離本發明精神和范圍的前提下,本發明還有各種變化和改變,這些變化和改變都落入要求保護的本發明范圍內。本發明要求保護范圍由所附的權利要求書界定。
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