[發(fā)明專利]一種電子設(shè)備及檢測(cè)方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201610510010.9 | 申請(qǐng)日: | 2016-06-30 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN106199213B | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-08-17 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 閆文林 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 聯(lián)想(北京)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R29/08 | 分類號(hào): | G01R29/08 |
| 代理公司: | 北京金信知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11225 | 代理人: | 黃威;王智 |
| 地址: | 100085 *** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 電子設(shè)備 檢測(cè) 方法 | ||
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- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R29-00 不包括在G01R 19/00至G01R 27/00各組中的電量的測(cè)量或指示裝置
G01R29-02 .單個(gè)脈沖特性的測(cè)量,如脈沖平度的偏差、上升時(shí)間、持續(xù)時(shí)間
G01R29-04 .形狀因數(shù)的測(cè)量,即瞬時(shí)值的均方根值和算術(shù)平均值的商;峰值因數(shù)的測(cè)量,即最大值和均方根值的商
G01R29-06 .調(diào)制深度的測(cè)量
G01R29-08 .電磁場(chǎng)特性的測(cè)量
G01R29-12 .靜電場(chǎng)的測(cè)量
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
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