[發(fā)明專利]一種時序參數(shù)掃描的方法及裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610499898.0 | 申請日: | 2016-06-29 |
| 公開(公告)號: | CN107545926A | 公開(公告)日: | 2018-01-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 楊永玲;譚亞偉 | 申請(專利權(quán))人: | 北京信威通信技術(shù)股份有限公司 |
| 主分類號: | G11C29/10 | 分類號: | G11C29/10 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 100193 北京市海淀區(qū)*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 時序 參數(shù) 掃描 方法 裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明實施例涉及通信的技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種時序參數(shù)掃描的方法及裝置。
背景技術(shù)
傳統(tǒng)March_C算法在存儲器測試中應(yīng)用非常廣泛,也有相對比較好的測試效果。傳統(tǒng)March_C算法對跳變故障、固定故障以及大部分的耦合故障的檢測是非常有效的。但在檢測存儲器單元耦合故障和地址開放故障或?qū)ぶ饭收蠒r有一些不足之處,例如單元耦合故障:對于兩個小單元粘連,同時并同方向跳變檢測不出來,不能存儲兩個小單元相反的值,這時要存儲的值就得不到正確的存儲;例如地址開放故障:相鄰兩個地址位會被同時選擇,每次進行寫操作都是寫相同的地址,無法正確檢測此類故障。
采用傳統(tǒng)的嵌入式CPU掃描方法檢測嵌入式系統(tǒng)中同步動態(tài)隨機存儲器(Synchronous Dynamic Random Access Memory,SDRAM)的最優(yōu)時序參數(shù),嵌入式CPU進行SDRAM讀寫時都是single的操作,理論上single操作只維持1個時鐘周期。但是也存在特殊情況,如果主芯片數(shù)據(jù)信號默認是輸入,即沒有寫操作的時候一直是輸入狀態(tài),SDRAM芯片的數(shù)據(jù)信號在這種情況下則只驅(qū)動一個周期(實際上小于一個周期),然后就變?yōu)楦咦瑁瑢?dǎo)致這個信號線在操作完成之后就沒有了任何驅(qū)動。于是,它就保持原來的值,維持多個時鐘周期(超過協(xié)議要求),直到下一次被驅(qū)動,實際上可以看到電壓的緩慢漂移,或可能已緩慢漂移到其他電壓值,這樣就導(dǎo)致了讀操作時有時無法采樣到正確的數(shù)據(jù),所以無法準(zhǔn)確的找到合適的時序參數(shù)。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明實施例的目的在于提出一種時序參數(shù)掃描的方法及裝置,旨在解決如何傳統(tǒng)的嵌入式CPU掃描方法以及傳統(tǒng)March_C算法的缺陷。
為達此目的,本發(fā)明實施例采用以下技術(shù)方案:
第一方面,一種時序參數(shù)掃描的方法,所述方法包括:
初始化同步動態(tài)隨機存儲器,配置多組時序參數(shù),遍歷每組時序參數(shù);
執(zhí)行直接存儲器存取控制器寫同步動態(tài)隨機存儲器操作,并對遍歷的不同時序參數(shù)進行直接存儲器存取控制器讀檢測,獲取正確讀寫同步動態(tài)隨機存儲器數(shù)據(jù)所對應(yīng)的時序參數(shù);
通過數(shù)據(jù)地址線檢測和最小時序參數(shù)延時的原則從獲取的時序參數(shù)中選取一組最優(yōu)的時序參數(shù)。
優(yōu)選地,所述數(shù)據(jù)線檢測包括:
獲取相反的地址A和地址B,向所述地址A和所述地址B依次寫入全0和全1,再依次讀出,比較結(jié)果的正確;
執(zhí)行所述數(shù)據(jù)線檢測的走零法和所述數(shù)據(jù)線檢測的走一法。
優(yōu)選地,所述執(zhí)行所述數(shù)據(jù)線檢測的走零法,包括:
向所述地址B寫入預(yù)設(shè)第一數(shù)值全1;
將數(shù)據(jù)線的最低位設(shè)為0,其余為1,并向所述地址A寫入所述預(yù)設(shè)第一數(shù)值;
按順序依次讀出所述地址B和所述地址A內(nèi)的數(shù)據(jù)值,驗證數(shù)據(jù)的正確性;
若數(shù)據(jù)錯誤,則最低位數(shù)據(jù)線可能存在固定為1錯誤;
若數(shù)據(jù)正確,將為0數(shù)據(jù)線左移一位,低位補1,向所述地址A內(nèi)寫入所述預(yù)設(shè)第一數(shù)值,并重復(fù)執(zhí)行按順序依次讀出所述地址B和所述地址A內(nèi)的數(shù)據(jù)值,驗證數(shù)據(jù)的正確性,直到0左移到數(shù)據(jù)線最高位。
優(yōu)選地,所述執(zhí)行所述數(shù)據(jù)線檢測的走一法,包括:
向所述地址B寫入預(yù)設(shè)第二數(shù)值全0;
將數(shù)據(jù)線的最低位設(shè)為1,其余為0,并向所述地址A內(nèi)寫入所述預(yù)設(shè)第二數(shù)值;
按順序依次讀出所述地址B和所述地址A內(nèi)的數(shù)據(jù)值,驗證數(shù)據(jù)的正確性;
若數(shù)據(jù)錯誤,則最低位數(shù)據(jù)線可能存在固定為0錯誤;
若數(shù)據(jù)正確,將為1地址線左移一位,低位補0,向所述地址A內(nèi)寫入所述預(yù)設(shè)第二數(shù)值,并重復(fù)執(zhí)行按順序依次讀出所述地址B和所述地址A內(nèi)的數(shù)據(jù)值,驗證數(shù)據(jù)的正確性,直到1左移到地址線最高位。
優(yōu)選地,所述地址線檢測包括:
向相反的地址A和地址B分別寫入“0”、“1”交替的數(shù)據(jù),依次讀出兩個地址的數(shù)據(jù),再比較讀出數(shù)據(jù)的正確性;
若有錯誤,則錯誤位對應(yīng)的數(shù)據(jù)線有可能發(fā)生數(shù)據(jù)線粘連;
若正確,執(zhí)行所述地址線檢測的走零法和所述地址線檢測的走一法。
優(yōu)選地,所述執(zhí)行所述地址線檢測的走零法,包括:
將地址線的最低位設(shè)為0,其余為1,向所述地址寫入預(yù)設(shè)第三數(shù)值;
將地址線為0的最低位地址線左移一位,向所述地址寫入預(yù)設(shè)第三數(shù)值;
讀上一次寫入所述預(yù)設(shè)第三數(shù)值的地址內(nèi)的數(shù)據(jù),驗證數(shù)據(jù)的正確性;
若數(shù)據(jù)錯誤,則相應(yīng)位的地址線可能存在地址線固定為1錯誤;
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