[發明專利]一種基于改進的機器視覺注意機制的磁瓦表面缺陷檢測方法有效
| 申請號： | 201610479587.8 | 申請日： | 2016-06-24 |
| 公開（公告）號： | CN106093066B | 公開（公告）日： | 2018-11-30 |
| 發明（設計）人： | 李丹;孫海濤;陸曉燕 | 申請（專利權）人： | 安徽工業大學 |
| 主分類號： | G01N21/95 | 分類號： | G01N21/95;G06T7/11;G06T7/155;G06T5/00 |
| 代理公司： | 南京知識律師事務所 32207 | 代理人： | 蔣海軍 |
| 地址： | 243002 安*** | 國省代碼： | 安徽;34 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 基于 改進 機器 視覺 注意 機制 表面 缺陷 檢測 方法 | ||
【說明書】：
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