[發明專利]數模轉換器的建立時間測試方法及系統

有效

• 申請號: 201610479549.2
• 申請日: 2016-06-22
• 公開（公告）號: CN107528590B
• 公開（公告）日: 2020-07-28
• 發明（設計）人: 劉琦;劉朋
• 申請（專利權）人: 中芯國際集成電路制造（天津）有限公司;中芯國際集成電路制造（上海）有限公司
• 主分類號: H03M1/10
• 分類號: H03M1/10
• 代理公司: 上海思微知識產權代理事務所(普通合伙) 31237
• 代理人: 屈蘅;李時云

本發明揭示了一種數模轉換器的建立時間測試方法，包括對一數模轉換器的電信號進行采樣；根據采樣數據，得到一個采樣周期中的高電平平均值；得到一電壓震蕩結束后的高電平穩定區間；在所述采樣數據中找到所述高電平穩定區間的起始采樣點，記為建立時間結束點；在所述采樣數據中查找最長的電壓值連續上升區間，記為最大上升區間；在所述采樣數據中找到所述最大上升區間結束后第一個電壓值為高電平平均值的采樣點，記為建立時間起始點；根據所述建立時間起始點和建立時間結束點，得到所述建立時間。本發明還提供一種使用上述方法的數模轉換器的建立時間測試系統，可以自動測試建立時間。

技術領域

本發明涉及數模轉換器測試技術領域，特別是涉及一種數模轉換器的建立時間測試方法及系統。

背景技術

對于DAC(數模轉換器)的特性分析測試，包含建立時間(settling time)的測試，建立時間就是對于一個振蕩的信號穩定到指定的最終值所需要的時間。然而目前對于settling time的測試，需要很多人工識別。隨著芯片工藝制成的發展，需要對芯片在不同電壓、溫度、速度條件下做全面的評估，同時也需要測試更多數量的樣品，這就給測試工作帶來了新的挑戰。如果全部手動測試，那完成整個測試的周期會嚴重影響到產品的開發進度。所以實現建立時間的全自動測試是必須要解決的技術問題。

發明內容

本發明的目的在于，提供一種數模轉換器的建立時間測試方法及系統，能夠自動測試數模轉換器的建立時間。

為解決上述技術問題，本發明提供一種數模轉換器的建立時間測試方法，包括：

一示波器對一數模轉換器的電信號進行采樣；

根據所述示波器的采樣數據，得到一個采樣周期中的高電平平均值；

根據建立時間的精度要求以及所述高電平平均值，得到一電壓震蕩結束后的高電平穩定區間；

在所述采樣數據中找到所述高電平穩定區間的起始采樣點，記為建立時間結束點；

在所述采樣數據中查找最長的電壓值連續上升區間，記為最大上升區間;

在所述采樣數據中找到所述最大上升區間結束后第一個電壓值為高電平平均值的采樣點，記為建立時間起始點;

根據所述建立時間起始點和建立時間結束點，得到所述建立時間。

進一步的，在所述數模轉換器的建立時間測試方法中，得到一個采樣周期中的高電平平均值的步驟包括：

對所述采樣數據進行直方圖統計，在所述直方圖中，橫坐標為電壓，縱坐標為點數，根據高電平的主峰，得到所述高電平平均值，并根據低電平的主峰，得到所述采樣周期中的低電平平均值。

進一步的，在所述數模轉換器的建立時間測試方法中，所述縱坐標的跨度為：(Vmax-Vmin)×z％，1％≤z≤5％，Vmax為所述采樣周期中的最低電壓值，Vmax為所述采樣周期中的最高電壓值。

進一步的，在所述數模轉換器的建立時間測試方法中，在所述采樣數據中查找所述最大上升區間的步驟包括：

對依次所述采樣數據中相鄰的兩個采樣點進行比較，比較后一采樣點的電壓值與前一采樣點的電壓值的大小，找到后一所述采樣點的電壓值連續大于前一所述采樣點的電壓值的最長區間，記為假定最大區間，判斷所述假定最大區間是否同時滿足以下要求：

所述假定最大區間起始點的電壓值是否小于等于(1+x)×VLmean，0.001％≤x≤10％，VLmean為低電平平均值;

所述假定最大區間的結束點的電壓值是否大于等于(1-x)×VHmean，VHmean為高電平平均值;

所述假定最大區間是否經過所述示波器的采樣觸發點;