[發(fā)明專利]圖案式防護(hù)結(jié)構(gòu)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201610474288.5 | 申請(qǐng)日: | 2016-06-24 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN107546216B | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-04-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 顏孝璁;羅正瑋;簡(jiǎn)育生;葉達(dá)勛 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 瑞昱半導(dǎo)體股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L23/58 | 分類號(hào): | H01L23/58 |
| 代理公司: | 隆天知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 72003 | 代理人: | 李昕巍;鄭泰強(qiáng) |
| 地址: | 中國(guó)臺(tái)*** | 國(guó)省代碼: | 臺(tái)灣;71 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 圖案 防護(hù) 結(jié)構(gòu) | ||
本發(fā)明公開(kāi)了一種圖案式防護(hù)結(jié)構(gòu),其應(yīng)用于集成電路中。圖案式防護(hù)結(jié)構(gòu)位于集成電路的電感與基板之間。圖案式防護(hù)結(jié)構(gòu)包含中央結(jié)構(gòu)單元、第一圖案化結(jié)構(gòu)單元及第二圖案化結(jié)構(gòu)單元。中央結(jié)構(gòu)單元包含第一次中央結(jié)構(gòu)單元及第二次中央結(jié)構(gòu)單元。第二次中央結(jié)構(gòu)單元以中央結(jié)構(gòu)單元的中央為基準(zhǔn)而與第一次中央結(jié)構(gòu)單元對(duì)稱配置。第一圖案化結(jié)構(gòu)單元配置于中央結(jié)構(gòu)單元的一側(cè)。第二圖案化結(jié)構(gòu)單元配置于中央結(jié)構(gòu)單元的另一側(cè),且第二圖案化結(jié)構(gòu)單元以中央結(jié)構(gòu)單元為基準(zhǔn)而與第一圖案化結(jié)構(gòu)單元對(duì)稱配置。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種集成電路,且特別是涉及一種應(yīng)用于集成電路中的電感,其圖案式防護(hù)結(jié)構(gòu)。
背景技術(shù)
隨著科技的進(jìn)步,集成電路(integrated circuit)的工藝已朝向28納米(nm)及20納米發(fā)展。在此微型尺寸下,存在諸多因微型尺寸所致的負(fù)面影響,例如,因集成電路內(nèi)之氧化層厚度較薄,而導(dǎo)致電容值較高,且氧化層較薄之故,也會(huì)在基板(substrate)產(chǎn)生的渦電流,這些狀況皆會(huì)對(duì)電感的品質(zhì)因素產(chǎn)生影響。
由此可見(jiàn),上述現(xiàn)有的方式,顯然仍存在不便與缺陷,而有待改進(jìn)。為了解決上述問(wèn)題,相關(guān)領(lǐng)域無(wú)不費(fèi)盡心思來(lái)謀求解決之道,但長(zhǎng)久以來(lái)仍未發(fā)展出適當(dāng)?shù)慕鉀Q方案。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明內(nèi)容的一目的是在提供一種圖案式防護(hù)結(jié)構(gòu),由此改善現(xiàn)有技術(shù)的問(wèn)題。
為達(dá)上述目的,本發(fā)明內(nèi)容的一技術(shù)方式系關(guān)于一種圖案式防護(hù)結(jié)構(gòu),其應(yīng)用于集成電路中。圖案式防護(hù)結(jié)構(gòu)位于集成電路的電感與基板之間。圖案式防護(hù)結(jié)構(gòu)包含中央結(jié)構(gòu)單元、第一圖案化結(jié)構(gòu)單元及第二圖案化結(jié)構(gòu)單元。中央結(jié)構(gòu)單元包含第一次中央結(jié)構(gòu)單元及第二次中央結(jié)構(gòu)單元。第二次中央結(jié)構(gòu)單元以中央結(jié)構(gòu)單元的中央為基準(zhǔn)而與第一次中央結(jié)構(gòu)單元對(duì)稱配置。第一圖案化結(jié)構(gòu)單元配置于中央結(jié)構(gòu)單元的一側(cè)。第二圖案化結(jié)構(gòu)單元配置于中央結(jié)構(gòu)單元的另一側(cè),且第二圖案化結(jié)構(gòu)單元以中央結(jié)構(gòu)單元為基準(zhǔn)而與第一圖案化結(jié)構(gòu)單元對(duì)稱配置。
因此,根據(jù)本發(fā)明的技術(shù)內(nèi)容,本發(fā)明實(shí)施例通過(guò)提供一種圖案式防護(hù)結(jié)構(gòu),其可應(yīng)用于集成電路內(nèi)以改善電感的品質(zhì)因素下降的問(wèn)題。
附圖說(shuō)明
為讓本發(fā)明的上述和其他目的、特征、優(yōu)點(diǎn)與實(shí)施例能更明顯易懂,所附附圖的說(shuō)明如下:
圖1為依照本發(fā)明一實(shí)施例繪示一種圖案式防護(hù)結(jié)構(gòu)的示意圖。
圖2為依照本發(fā)明另一實(shí)施例繪示一種圖案式防護(hù)結(jié)構(gòu)的示意圖。
圖3為依照本發(fā)明再一實(shí)施例繪示一種圖案式防護(hù)結(jié)構(gòu)的示意圖。
圖4為依照本發(fā)明又一實(shí)施例繪示一種圖案式防護(hù)結(jié)構(gòu)的示意圖。
圖5為依照本發(fā)明另一實(shí)施例繪示一種圖案式防護(hù)結(jié)構(gòu)的示意圖。
圖6為依照本發(fā)明再一實(shí)施例繪示一種集成電路的電感的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)圖。
【符號(hào)說(shuō)明】
100、100A、100B:圖案式防護(hù)結(jié)構(gòu)
110、110A、110B:中央結(jié)構(gòu)單元
111、111A、111B:第一次中央結(jié)構(gòu)單元
112、112A、112B:第二次中央結(jié)構(gòu)單元
113:骨干
114~115:支干
114A、114B、115A、115B、116、116B、117、117B:條狀部
120:第一圖案化結(jié)構(gòu)單元
121~122:骨干
123~128:支干
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