[發(fā)明專利]陣列基板、顯示裝置及陣列基板的檢測方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610471879.7 | 申請日： | 2016-06-24 |
| 公開（公告）號： | CN106128342B | 公開（公告）日： | 2019-08-30 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 張子鶴;季斌 | 申請（專利權(quán)）人： | 京東方科技集團股份有限公司;成都京東方光電科技有限公司 |
| 主分類號： | G09G3/00 | 分類號： | G09G3/00;G02F1/1362 |
| 代理公司： | 北京鼎佳達知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11348 | 代理人： | 王偉鋒;劉鐵生 |
| 地址： | 100015 *** | 國省代碼： | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 陣列 顯示裝置 檢測 方法 | ||
【權(quán)利要求書】：
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