[發(fā)明專利]消除被測物體表面盲點的顯微鏡輔助裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610471424.5 | 申請日： | 2016-06-23 |
| 公開（公告）號： | CN106019552B | 公開（公告）日： | 2019-01-11 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 李秀山;王貞福;楊國文 | 申請（專利權(quán)）人： | 中國科學(xué)院西安光學(xué)精密機械研究所 |
| 主分類號： | G02B21/26 | 分類號： | G02B21/26 |
| 代理公司： | 西安智邦專利商標(biāo)代理有限公司 61211 | 代理人： | 胡樂 |
| 地址： | 710119 陜西省西*** | 國省代碼： | 陜西;61 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 消除 物體 表面 盲點 顯微鏡 輔助 裝置 | ||
【權(quán)利要求書】：
下載完整專利技術(shù)內(nèi)容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息，商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國科學(xué)院西安光學(xué)精密機械研究所，未經(jīng)中國科學(xué)院西安光學(xué)精密機械研究所許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作，請聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201610471424.5/1.html，轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
