[發明專利]具有用于存儲器的故障監測的電子設備及相關聯的方法

有效

• 申請號: 201610466671.6
• 申請日: 2016-06-23
• 公開（公告）號: CN106803429B
• 公開（公告）日: 2021-03-09
• 發明（設計）人: O·蘭簡;F·E·C·迪塞格尼
• 申請（專利權）人: 意法半導體國際有限公司;意法半導體股份有限公司
• 主分類號: G11C29/42
• 分類號: G11C29/42;G11C29/44;G06F11/10
• 代理公司: 北京市金杜律師事務所 11256
• 代理人: 王茂華

1.一種電子設備，包括：

存儲器，所述存儲器具有經受瞬態故障和永久故障的多個存儲器位置；以及

故障檢測電路，所述故障檢測電路耦接于所述存儲器并且被配置成用于

在第一時間讀取所述多個存儲器位置并且在所述第一時間基于讀取所述多個存儲器位置確定包括所述瞬態和永久故障的第一故障計數和第一故障映射簽名，

存儲所述第一故障計數和所述第一故障映射簽名，

在第二時間讀取所述多個存儲器位置并且在所述第二時間基于讀取所述多個存儲器位置確定包括所述瞬態和永久故障的第二故障計數和第二故障映射簽名，

將所述存儲的第一故障計數和第一故障映射簽名與所述第二故障計數和所述第二故障映射簽名進行比較以確定所述多個存儲器位置的永久故障計數，以及

基于所述比較來生成指示，其中所述故障檢測電路包括：存儲器控制器，所述存儲器控制器被配置成用于讀取所述多個存儲器位置；存儲器錯誤處置器，所述存儲器錯誤處置器耦接于所述存儲器控制器；以及處理器，所述處理器被配置成將所述存儲的第一故障計數和第一故障映射簽名與所述第二故障計數和所述第二故障映射簽名進行比較，從而基于所述存儲的第一故障計數和所述第一故障映射簽名與所述第二故障計數和所述第二故障映射簽名之間的改變，確定所述永久故障計數，其中所述存儲器控制器包括：循環冗余校驗CRC電路，所述CRC電路被配置成用于檢測所述瞬態和永久故障；以及錯誤計數器，所述錯誤計數器耦接于所述CRC電路，并且被配置成用于確定所述瞬態和永久故障的所述第一故障計數和所述第二故障計數。

2.如權利要求1所述的電子設備，其中，所述故障檢測電路進一步包括指示器電路，所述指示器電路被配置成用于基于所述永久故障計數超過閾值而生成所述指示。

3.如權利要求1所述的電子設備，其中，所述存儲器控制器被配置成用于在所述存儲器內的不同塊之上以三個副本來存儲所述第一故障計數和所述第一故障映射簽名以及所述永久故障計數。

4.如權利要求1所述的電子設備，其中，所述CRC電路被配置成用于針對每個瞬態和永久故障計算漸進式簽名。

5.如權利要求1所述的電子設備，其中，所述第一時間包括所述存儲器的掉電事件。

6.如權利要求1所述的電子設備，其中，所述第二時間包括所述存儲器的上電事件。

7.如權利要求1所述的電子設備，其中，每個瞬態和永久故障具有與其相關聯的存儲器地址和校正子。

8.如權利要求1所述的電子設備，其中，每個瞬態故障包括單比特或雙比特可校正的錯誤，而每個永久故障包括三比特不可校正的錯誤。

9.如權利要求1所述的電子設備，其中，所述存儲器包括非易失性存儲器。