[發(fā)明專利]用于預(yù)測芯片壽命的芯片內(nèi)建自檢電路系統(tǒng)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610464305.7 | 申請日： | 2016-06-24 |
| 公開（公告）號： | CN107544011A | 公開（公告）日： | 2018-01-05 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 陸宇;陳昭;程玉華 | 申請（專利權(quán)）人： | 上海北京大學(xué)微電子研究院 |
| 主分類號： | G01R31/28 | 分類號： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 201203 *** | 國省代碼： | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 用于 預(yù)測 芯片 壽命 自檢 電路 系統(tǒng) | ||
1.一種用于預(yù)測芯片壽命的芯片內(nèi)建自檢電路系統(tǒng)，其特征在于，包括：
閾值設(shè)置模塊，參數(shù)檢測模塊，比較模塊，信息發(fā)送模塊以及各模塊間的連接電路；四個模塊以及連接電路構(gòu)成芯片自檢電路整體；整個電路有輸出和輸入端口，便于獲取和發(fā)送信息。
2.如權(quán)利要求1所述的電路系統(tǒng)，其特征在于，所述閾值設(shè)置模塊包含參數(shù)種類選擇部分以及數(shù)值設(shè)定部分；參數(shù)種類選擇將要檢測的參數(shù)，數(shù)值設(shè)定則用于設(shè)置檢測閾值，即用于與實際值相比較的標(biāo)準(zhǔn)。
3.如權(quán)利要求1所述的電路系統(tǒng)，其特征在于，所述參數(shù)檢測模塊可以根據(jù)閾值設(shè)置模塊所設(shè)置的參數(shù)種類，對參數(shù)值進(jìn)行采樣獲取，并通過連接電路將所得值送到比較模塊。
4.如權(quán)利要求1所述的電路系統(tǒng)，其特征在于，所述比較模塊將參數(shù)檢測模塊傳輸來的參數(shù)值與閾值設(shè)置模塊所設(shè)置的閾值進(jìn)行比較，得出比較結(jié)果，并將比較結(jié)果送到信息發(fā)送模塊。
5.如權(quán)利要求1所述的電路系統(tǒng)，其特征在于，所述信息發(fā)送模塊將；比較模塊所得結(jié)果發(fā)送給維護(hù)人員。
6.如權(quán)利要求1所述的電路系統(tǒng)，其特征在于，所述連接電路用于傳遞信號，不限定具體結(jié)構(gòu)，只需保證傳遞所需信號的功能。
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