[發明專利]損壞數據行的篩選方法與具有損壞數據行總表的數據儲存裝置

有效

• 申請號: 201610464258.6
• 申請日: 2016-06-23
• 公開（公告）號: CN107346212B
• 公開（公告）日: 2020-02-18
• 發明（設計）人: 黃圣元;曾文武
• 申請（專利權）人: 慧榮科技股份有限公司
• 主分類號: G06F3/06
• 分類號: G06F3/06
• 代理公司: 廣州圣理華知識產權代理有限公司 44302
• 代理人: 頓海舟;李唐明

本發明涉及一種損壞數據行的篩選方法，可應用于數據儲存媒體。在此方法中，首先是讀取至少一數據區塊中之至少一數據頁的寫入數據；接著，比對默認數據與寫入數據，以取得每一區段之每一數據行的錯誤比特數，并據以計算每一區段之錯誤數；然后，選取其中具有最大之錯誤數的區段；接著，將選出之區段中具有最大之錯誤比特數的數據行記錄成損壞數據行。此外，一種具有損壞數據行總表的數據儲存裝置亦被提出。

技術領域

本發明涉及一種數據儲存之相關技術，尤其是關于一種損壞數據行的篩選方法與一種具有損壞數據行總表的數據儲存裝置。

背景技術

數據儲存裝置，例如是固態硬盤(solid state drive，SSD)、SD記憶卡(securedigital memory card)或閃存碟(U盤)等，主要由控制單元與數據儲存媒體所構成，而其中數據儲存媒體又是由多個用以儲存數據的數據行(column)所構成。

在數據儲存裝置的制造過程中，難免會生產出次級品，而這些次級品在販賣給使用者之前，都要先將數據儲存媒體中的損壞數據行(bad column)篩選出來并記錄在損壞數據行總表中。據此，控制單元在往后的操作中，便不會再對記錄的損壞數據行存取數據，進而避免存取的數據發生錯誤。

數據儲存裝置系利用錯誤校正碼(error correcting code，ECC)來校正其所儲存的數據，習知的損壞數據行篩選方法不僅會浪費許多原本可用的數據儲存空間，亦無法有效地降低損壞數據行所造成的數據保存或校正的問題。

發明內容

因此，本發明之一目的在提供一種損壞數據行的篩選方法，其可應用于數據儲存媒體，使用此新篩選方法可以保留數據儲存媒體中許多原本會被錯殺的數據儲存空間，進而避免過分地減少數據儲存媒體的數據儲存容量。

本發明之另一目的在提供一種具有損壞數據行總表的數據儲存裝置，其采用上述之損壞數據行的篩選方法。

本發明提出一種損壞數據行的篩選方法，其可應用于數據儲存媒體。所述數據儲存媒體包括有復數數據區塊，每一數據區塊包括復數數據行并將上述數據行劃分為復數區段，且所述數據儲存媒體包括復數數據頁，每一數據頁包括位于同一列的數據行。所述之篩選方法包括：讀取至少一數據區塊之至少一數據頁的寫入數據；比對至少一默認數據與至少一數據頁的寫入數據以取得每一區段之每一數據行之錯誤比特數，并據以計算每一區段之錯誤數；選取其中之一區段其具有最大之錯誤數；以及將其中之一區段中具有最大之錯誤比特數之其中之一數據行記錄成損壞數據行。

本發明另提出一種具有損壞數據行總表的數據儲存裝置，所述數據儲存裝置包括控制單元以及數據儲存媒體，且數據儲存媒體包括復數數據區塊，每一數據區塊包括復數數據行并將上述數據行劃分為復數區段。所述之數據儲存媒體包括復數數據頁，每一數據頁包括位于同一列的數據行。所述損壞數據行總表系依據下列步驟而產生，包括：讀取至少一數據區塊之至少一數據頁的寫入數據；比對至少一默認數據與至少一數據頁的寫入數據以取得每一區段之每一數據行之錯誤比特數，并據以計算每一區段之錯誤數；選取其中之一區段其具有最大之錯誤數；以及將其中之一區段中具有最大之錯誤比特數之其中之一數據行記錄至損壞數據行總表。

本發明之篩選方法系在上述區段中找出具有最高的錯誤數的區段，再將此區段中具有最高錯誤比特數或最高平均錯誤比特數的數據行視為損壞數據行，并將其記錄至損壞數據行總表中，控制單元不會再對損壞數據行總表的損壞數據行存取數據，因此，除了損壞數據行之外，其他數據行皆可用以儲存數據，因此，可以將數據儲存媒體的數據儲存容量優化。

上述說明僅是本發明技術方案的概述，為了能夠更清楚了解本發明的技術手段，而可依照說明書的內容予以實施，并且為了讓本發明的上述和其他目的、特征和優點能夠更明顯易懂，以下特舉優選實施例，并配合附圖，詳細說明如下。

附圖說明

圖1為數據儲存媒體的示意圖。