[發明專利]造型裝置、斷面測量裝置及斷面測量方法在審
| 申請號： | 201610462914.9 | 申請日： | 2016-06-23 |
| 公開（公告）號： | CN106323194A | 公開（公告）日： | 2017-01-11 |
| 發明（設計）人： | 張玉武;淺野秀光;今正人 | 申請（專利權）人： | 株式會社三豐 |
| 主分類號： | G01B11/24 | 分類號： | G01B11/24;B29C67/00 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律師事務所11105 | 代理人： | 邸萬奎 |
| 地址： | 暫無信息 | 國省代碼： | 暫無信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 造型 裝置 斷面 測量 測量方法 | ||
【說明書】：
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