[發(fā)明專利]一種半導(dǎo)體設(shè)備及其制作方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201610462387.1 | 申請(qǐng)日: | 2016-06-23 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN105914187B | 公開(kāi)(公告)日: | 2019-02-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李學(xué)良;西里奧艾珀里亞科夫 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 四川洪芯微科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L23/29 | 分類號(hào): | H01L23/29;H01L21/56 |
| 代理公司: | 湖州金衛(wèi)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 33232 | 代理人: | 趙衛(wèi)康 |
| 地址: | 629200 四川*** | 國(guó)省代碼: | 四川;51 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 半導(dǎo)體設(shè)備 及其 制作方法 | ||
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于四川洪芯微科技有限公司,未經(jīng)四川洪芯微科技有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201610462387.1/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 用于檢測(cè)半導(dǎo)體設(shè)備的裝置
- 監(jiān)測(cè)半導(dǎo)體存儲(chǔ)設(shè)備可靠性的方法及其裝置
- 半導(dǎo)體晶體移除設(shè)備和半導(dǎo)體晶體的產(chǎn)生方法
- 具有機(jī)械熔絲的半導(dǎo)體封裝
- 監(jiān)控退火設(shè)備出現(xiàn)小顆粒尺寸缺陷的方法
- 多晶硅柵極關(guān)鍵尺寸的先進(jìn)控制方法
- 具有磁耦合設(shè)備的半導(dǎo)體開(kāi)關(guān)
- 半導(dǎo)體工藝及半導(dǎo)體設(shè)備
- 半導(dǎo)體設(shè)備封裝及其制造方法
- 半導(dǎo)體微波設(shè)備的控制方法和半導(dǎo)體微波設(shè)備





