[發明專利]一種用于高功率光纖激光器的全光纖功率測量系統

在審

• 申請號: 201610460532.2
• 申請日: 2016-06-22
• 公開（公告）號: CN107525583A
• 公開（公告）日: 2017-12-29
• 發明（設計）人: 趙保銀;高衛;俱沛;王振光;李剛
• 申請（專利權）人: 中國科學院西安光學精密機械研究所
• 主分類號: G01J1/42
• 分類號: G01J1/42
• 代理公司: 西安智邦專利商標代理有限公司61211
• 代理人: 陳廣民

1.一種用于高功率光纖激光器的全光纖功率測量系統，包括輸出光纖、光能量取樣單元、光電探測器、數據采集單元、數據處理單元和顯示單元；所述輸出光纖與待測光纖激光器相連；所述數據采集單元用于采集光電探測器的輸出信號；所述數據處理單元用于獲得待測光纖激光器的輸出功率值；所述顯示單元用于顯示待測光纖激光器的輸出功率值；

其特征在于：

所述光能量取樣單元包括耦合光纖；

所述輸出光纖具有第一去涂覆區，所述耦合光纖具有第二去涂覆區；所述第一去涂覆區和第二去涂覆區采用光學膠固定，形成光能量耦合區；所述輸出光纖中的部分光能量通過所述光能量耦合區轉移到所述耦合光纖中傳輸，實現光能量取樣；

所述光電探測器位于耦合光纖的輸出端，用于探測耦合光纖所輸出的光信號。

2.根據權利要求1所述的一種用于高功率光纖激光器的全光纖功率測量系統，其特征在于：所述耦合光纖的第二去涂覆區為拉錐光纖，其錐形的均勻部分和第二去涂覆區采用光學膠固定。

3.根據權利要求1或2所述的一種用于高功率光纖激光器的全光纖功率測量系統，其特征在于：所述輸出光纖和耦合光纖在光能量耦合區采用封裝外殼封裝固定。