[發明專利]一種檢測納米二氧化鈦隨角異色性能的方法有效
| 申請號： | 201610455247.1 | 申請日： | 2016-06-22 |
| 公開（公告）號： | CN106018294B | 公開（公告）日： | 2019-07-26 |
| 發明（設計）人： | 吳健春;杜劍橋;王斌;石瑞成 | 申請（專利權）人： | 攀鋼集團攀枝花鋼鐵研究院有限公司 |
| 主分類號： | G01N21/27 | 分類號： | G01N21/27;G01N1/38 |
| 代理公司： | 成都希盛知識產權代理有限公司 51226 | 代理人： | 柯海軍;武森濤 |
| 地址： | 617000 四*** | 國省代碼： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 檢測 納米 氧化 鈦隨角異色 性能 方法 | ||
【說明書】：
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