[發明專利]利用耦合微波成像信息的敏感場的電容層析成像方法在審
| 申請號： | 201610452199.0 | 申請日： | 2016-06-21 |
| 公開（公告）號： | CN106153691A | 公開（公告）日： | 2016-11-23 |
| 發明（設計）人： | 葉佳敏;吳蒙;王海剛 | 申請（專利權）人： | 中國科學院工程熱物理研究所 |
| 主分類號： | G01N27/22 | 分類號： | G01N27/22 |
| 代理公司： | 中科專利商標代理有限責任公司 11021 | 代理人： | 任巖 |
| 地址： | 100190 *** | 國省代碼： | 北京;11 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 利用 耦合 微波 成像 信息 敏感 電容 層析 方法 | ||
【權利要求書】：
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中國科學院工程熱物理研究所，未經中國科學院工程熱物理研究所許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201610452199.0/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
