[發明專利]具有多量程的微電容參比測量電路及方法有效
| 申請號： | 201610450873.1 | 申請日： | 2016-06-21 |
| 公開（公告）號： | CN105974202B | 公開（公告）日： | 2019-06-28 |
| 發明（設計）人： | 郝瑞庭;王俊美;李杰 | 申請（專利權）人： | 北京華峰測控技術股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R27/26 | 分類號： | G01R27/26 |
| 代理公司： | 北京國林貿知識產權代理有限公司 11001 | 代理人： | 李桂玲;杜國慶 |
| 地址： | 100000 北京*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 具有 多量 電容 測量 電路 方法 | ||
【權利要求書】：
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