[發(fā)明專利]一種螺栓裂紋檢測(cè)方法及螺紋裂紋檢測(cè)裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201610450229.4 | 申請(qǐng)日: | 2016-06-21 |
| 公開(公告)號(hào): | CN106153721A | 公開(公告)日: | 2016-11-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 黃華斌;姜躍進(jìn);徐矛;石磊;彭智偉 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國飛機(jī)強(qiáng)度研究所 |
| 主分類號(hào): | G01N29/04 | 分類號(hào): | G01N29/04;G01N29/30 |
| 代理公司: | 北京航信高科知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11526 | 代理人: | 劉麗萍 |
| 地址: | 710065*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 螺栓 裂紋 檢測(cè) 方法 螺紋 裝置 | ||
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國飛機(jī)強(qiáng)度研究所,未經(jīng)中國飛機(jī)強(qiáng)度研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201610450229.4/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 機(jī)械視覺疲勞裂紋擴(kuò)展試驗(yàn)裂紋長度動(dòng)態(tài)測(cè)量方法
- 超聲波檢測(cè)在役風(fēng)機(jī)主軸裂紋的試塊
- 裂紋解析裝置、裂紋解析方法以及記錄介質(zhì)
- 基于指數(shù)增量裂紋擴(kuò)展系數(shù)的多裂紋擴(kuò)展預(yù)測(cè)方法
- 基于圖像處理的梁底裂紋檢測(cè)方法、系統(tǒng)、裝置及介質(zhì)
- 一種顯示面板的裂紋檢測(cè)方法
- 金屬裂紋檢測(cè)系統(tǒng)及裂紋檢測(cè)傳感器
- 一種脆性大理石三維裂紋擴(kuò)展路徑預(yù)測(cè)方法及系統(tǒng)
- 一種表面裂紋的識(shí)別系統(tǒng)、方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 針對(duì)小裂紋的裂紋擴(kuò)展速率模型以及對(duì)鈦合金材料進(jìn)行裂紋擴(kuò)展速率建模的方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)
- 一種數(shù)據(jù)庫讀寫分離的方法和裝置
- 一種手機(jī)動(dòng)漫人物及背景創(chuàng)作方法
- 一種通訊綜合測(cè)試終端的測(cè)試方法
- 一種服裝用人體測(cè)量基準(zhǔn)點(diǎn)的獲取方法
- 系統(tǒng)升級(jí)方法及裝置
- 用于虛擬和接口方法調(diào)用的裝置和方法
- 線程狀態(tài)監(jiān)控方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)
- 一種JAVA智能卡及其虛擬機(jī)組件優(yōu)化方法
- 檢測(cè)程序中方法耗時(shí)的方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 函數(shù)的執(zhí)行方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)





