[發明專利]一種單次回返超低量程紫外分析儀及其分析方法有效
| 申請號： | 201610449103.5 | 申請日： | 2016-06-21 |
| 公開（公告）號： | CN106124441B | 公開（公告）日： | 2020-08-04 |
| 發明（設計）人： | 于志偉;楊效;韓葉星;黃斌雷;李坤;盛潤坤 | 申請（專利權）人： | 杭州澤天科技有限公司 |
| 主分類號： | G01N21/33 | 分類號： | G01N21/33;G01N21/01 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 310052 浙江省杭州*** | 國省代碼： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 回返 量程 紫外 分析 及其 方法 | ||
【權利要求書】：
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