[發明專利]一種基于分光成像法的電弧瞬態溫度場測試系統有效
| 申請號： | 201610444107.4 | 申請日： | 2016-06-20 |
| 公開（公告）號： | CN105973498B | 公開（公告）日： | 2018-12-14 |
| 發明（設計）人： | 周學;張勇;崔行磊;翟國富;陳柏翰 | 申請（專利權）人： | 哈爾濱工業大學 |
| 主分類號： | G01K11/00 | 分類號： | G01K11/00 |
| 代理公司： | 哈爾濱市松花江專利商標事務所 23109 | 代理人： | 楊曉輝 |
| 地址： | 150001 黑龍*** | 國省代碼： | 黑龍江;23 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 基于 分光 成像 電弧 瞬態 溫度場 測試 系統 | ||
【權利要求書】：
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于哈爾濱工業大學，未經哈爾濱工業大學許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201610444107.4/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
