[發(fā)明專利]高分子材料內(nèi)部缺陷無損檢測裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610442420.4 | 申請日： | 2016-06-20 |
| 公開（公告）號： | CN105910986A | 公開（公告）日： | 2016-08-31 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 王鳴山;王勝男 | 申請（專利權(quán)）人： | 中核（天津）科技發(fā)展有限公司 |
| 主分類號： | G01N19/08 | 分類號： | G01N19/08 |
| 代理公司： | 天津市宗欣專利商標(biāo)代理有限公司 12103 | 代理人： | 胡恩河;馬倩 |
| 地址： | 300180 *** | 國省代碼： | 天津;12 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 高分子材料 內(nèi)部 缺陷 無損 檢測 裝置 | ||
【權(quán)利要求書】：
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