[發明專利]一種雷達盲區分析方法及裝置

有效

• 申請號: 201610431567.3
• 申請日: 2016-06-16
• 公開（公告）號: CN105842676B
• 公開（公告）日: 2018-03-30
• 發明（設計）人: 朱金華;李飛
• 申請（專利權）人: 成都中科合迅科技有限公司
• 主分類號: G01S7/41
• 分類號: G01S7/41
• 代理公司: 北京超凡志成知識產權代理事務所(普通合伙)11371
• 代理人: 唐維虎

技術領域

本發明涉及探測技術領域，具體而言，涉及一種雷達盲區分析方法及裝置。

背景技術

雷達是一種利用電磁波探測目標點的電子設備，主要用于進行無線電探測和測距，其采用無線電方法發現目標點并測定目標點的空間位置。雷達發射電磁波對目標點進行照射并接收其回波，可獲得目標點至電磁波發射點的距離、距離變化率(徑向速度)、方位和高度等信息。雷達現已被廣泛運用到各行各業中，其檢測的精度也越來越高。但是由于地球曲率、地雜波干擾和地形遮蔽等因素的作用，導致雷達探測技術存在掃描盲區。其中，雷達波在空間的傳播過程中由于地勢的起伏和障礙物的遮擋，形成了雷達地形遮蔽盲區。現有技術中，對雷達地形遮蔽盲區的計算方法主要是通過將每個節點同目標點與雷達連線之間的所有面進行遮蔽計算，得到目標點的最大間隙高度，并將其作為目標點的盲區間隙高度。但是上述計算方法的步驟繁瑣、計算量大，耗時多。

發明內容

本發明提供了一種雷達盲區分析方法及裝置，旨在有效降低對雷達盲區進行計算的計算步驟、計算量以及計算耗時。

第一方面，本發明實施例提供的一種雷達盲區分析方法，包括以下步驟：

設置雷達的參數信息，所述參數信息包括雷達的高度值、分析精度、選畫線密度和取點密度；

確定所述雷達的位置和掃描范圍，建立空間坐標系以及根據所述選畫線密度和取點密度構建地形分析模型；

針對所述地形分析模型讀取數字高程模型數據，并將所述數字高程模型數據轉化為在所述空間坐標系中的數字高程模型柵格圖，所述數字高程模型柵格圖中包括多個方位節點信息；

在所述掃描范圍內，根據所述數字高程模型柵格圖依次獲取每個方位節點的高程值以及每個方位節點與所述雷達之間的直線距離，并根據每個方位節點的高程值和所述雷達的高度值計算出每個方位節點的高程絕對差值；

根據每個方位節點與所述雷達之間的直線距離、每個方位節點的高程絕對差值、所述雷達的分析精度以及所述數字高程模型柵格圖中預存的地形信息針對每個方位節點進行盲區分析，并將進行盲區分析后的結果進行顯示，其中，所述地形信息包括每個方位節點在沿著所述雷達的發射方向上的高程值變化情況。

優選地，所述針對每個方位節點進行盲區分析的步驟包括：

根據每個方位節點的高程值以及每個方位節點與雷達之間的直線距離分別計算每個方位節點與所述雷達所在高度水平線的第一夾角；

以所述雷達的位置為中心，所述掃描范圍為半徑構建所述雷達的半球體掃描范圍；

根據每個方位節點與所述雷達所在高度水平線的第一夾角以及所述地形信息判斷所述半球體掃描范圍內的各方位節點之間的位置是否處于雷達盲區，并將判斷結果進行顯示。

優選地，所述判斷所述半球體掃描范圍內的各方位節點之間的位置是否處于雷達盲區的步驟包括：

當所述預存的地形信息在所述雷達的發射方向上呈上升趨勢時，若所述雷達的發射方向與所述雷達所在高度水平線的第二夾角小于所述第一夾角，則所述各方位節點之間的位置處于雷達盲區；

當所述預存的地形信息在所述雷達的發射方向上呈下降趨勢時，若所述雷達的發射方向與所述雷達所在高度水平線的第三夾角大于所述第一夾角，則所述各方位節點之間的位置處于雷達盲區。

優選地，所述將判斷結果進行顯示的步驟中，所述方法包括：

若所述半球體掃描范圍內的各方位節點之間的位置處于雷達盲區，則在所述構建的雷達的半球體掃描范圍內使用第一顏色對該位置進行標識；

若所述半球體掃描范圍內的各方位節點之間的位置未處于雷達盲區，則在所述構建的雷達的半球體掃描范圍內使用第二顏色對該位置進行標識。

優選地，所述確定所述雷達的位置和掃描范圍，建立空間坐標系以及根據所述選畫線密度和取點密度構建地形分析模型的步驟包括：

以所述雷達的位置為坐標原點，建立地面坐標系；

將雷達掃描范圍分為2N*2N個矩形網格，其中N為根據所述取點密度和雷達掃描范圍計算出的兩點之間的間隔距離。

第二方面，本發明實施例提供的一種雷達盲區分析裝置，包括：

設置模塊，用于設置雷達的參數信息，所述參數信息包括雷達的高度值、分析精度、選畫線密度和取點密度；

構建模塊，用于確定所述雷達的位置和掃描范圍，建立空間坐標系以及根據所述選畫線密度和取點密度構建地形分析模型；