[發(fā)明專利]次氯酸鈉低含量金屬鹽ICP測定前處理方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610429050.0 | 申請日： | 2016-06-16 |
| 公開（公告）號： | CN106124484A | 公開（公告）日： | 2016-11-16 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 楊忠明;王露;李輝;張曼玲;楊文琴 | 申請（專利權(quán)）人： | 重慶天原化工有限公司 |
| 主分類號： | G01N21/73 | 分類號： | G01N21/73;G01N1/34;G01N1/38 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 40000*** | 國省代碼： | 重慶;50 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 次氯酸 含量 金屬 icp 測定 處理 方法 | ||
【說明書】：
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- 專利分類
G01 測量；測試
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段，即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā)，因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng)，測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段，即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā)，因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
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