[發(fā)明專利]用于大口徑光學(xué)元件光學(xué)性能檢測(cè)的三維平臺(tái)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201610427984.0 | 申請(qǐng)日： | 2016-06-16 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN106124171A | 公開（公告）日： | 2016-11-16 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 邵建達(dá);柯立公;徐子媛;楊留江;趙元安 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 中國(guó)科學(xué)院上海光學(xué)精密機(jī)械研究所 |
| 主分類號(hào)： | G01M11/04 | 分類號(hào)： | G01M11/04 |
| 代理公司： | 上海新天專利代理有限公司 31213 | 代理人： | 張澤純;張寧展 |
| 地址： | 201800 上海市*** | 國(guó)省代碼： | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說(shuō)明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 用于 口徑 光學(xué) 元件 性能 檢測(cè) 三維 平臺(tái) | ||
【說(shuō)明書】：
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