[發(fā)明專利]碳化硅二極管和MOS管動(dòng)態(tài)測(cè)試的限流保護(hù)方法及系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201610424317.7 | 申請(qǐng)日: | 2016-06-15 |
| 公開(公告)號(hào): | CN106124954B | 公開(公告)日: | 2018-10-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉奧;陳剛;柏松 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第五十五研究所 |
| 主分類號(hào): | G01R31/26 | 分類號(hào): | G01R31/26;G01R1/36 |
| 代理公司: | 南京蘇高專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) 32204 | 代理人: | 柏尚春 |
| 地址: | 210016 江蘇*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 碳化硅 二極管 mos 動(dòng)態(tài) 測(cè)試 限流 保護(hù) 方法 系統(tǒng) | ||
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第五十五研究所,未經(jīng)中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第五十五研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201610424317.7/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 動(dòng)態(tài)矢量譯碼方法和動(dòng)態(tài)矢量譯碼裝置
- 動(dòng)態(tài)口令的顯示方法及動(dòng)態(tài)令牌
- 動(dòng)態(tài)庫管理方法和裝置
- 動(dòng)態(tài)令牌的身份認(rèn)證方法及裝置
- 令牌、動(dòng)態(tài)口令生成方法、動(dòng)態(tài)口令認(rèn)證方法及系統(tǒng)
- 一種動(dòng)態(tài)模糊控制系統(tǒng)
- 一種基于動(dòng)態(tài)信號(hào)的POS機(jī)和安全保護(hù)方法
- 圖像動(dòng)態(tài)展示的方法、裝置、系統(tǒng)及介質(zhì)
- 一種基于POS機(jī)聚合碼功能分離顯示動(dòng)態(tài)聚合碼的系統(tǒng)
- 基于動(dòng)態(tài)口令的身份認(rèn)證方法、裝置和動(dòng)態(tài)令牌





