[發明專利]高光譜分辨率整層大氣透過率測量方法在審
| 申請號： | 201610417742.3 | 申請日： | 2016-06-08 |
| 公開（公告）號： | CN105928902A | 公開（公告）日： | 2016-09-07 |
| 發明（設計）人： | 曹振松;談圖;吳慶川;馬宏亮;黃印博;劉強;黃宏華;朱文越;高曉明;饒瑞中 | 申請（專利權）人： | 中國科學院合肥物質科學研究院 |
| 主分類號： | G01N21/39 | 分類號： | G01N21/39 |
| 代理公司： | 安徽合肥華信知識產權代理有限公司 34112 | 代理人： | 余成俊 |
| 地址： | 230031 *** | 國省代碼： | 安徽;34 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 光譜 分辨率 大氣 透過 測量方法 | ||
【權利要求書】：
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中國科學院合肥物質科學研究院，未經中國科學院合肥物質科學研究院許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201610417742.3/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
