[發明專利]砂巖儲層的孔喉及流體分布的重構方法有效
| 申請號: | 201610412629.6 | 申請日: | 2016-06-13 |
| 公開(公告)號: | CN105954496B | 公開(公告)日: | 2018-02-02 |
| 發明(設計)人: | 趙力彬;張同輝;楊學君;齊春艷;王旭;孫雄偉;肖香姣 | 申請(專利權)人: | 中國石油天然氣股份有限公司 |
| 主分類號: | G01N33/24 | 分類號: | G01N33/24 |
| 代理公司: | 北京同立鈞成知識產權代理有限公司11205 | 代理人: | 李小波,黃健 |
| 地址: | 100007 北京市*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 砂巖 流體 分布 方法 | ||
1.一種砂巖儲層的孔喉及流體分布的重構方法,其特征在于,包括:
根據電子計算機斷層掃描CT技術,獲得觀測試樣的非水相孔喉CT圖像;
根據聚焦離子束掃描電鏡FIB-SEM技術,獲得所述觀測試樣的第一孔喉全集圖像;
根據所述第一孔喉全集圖像確定第二孔喉全集圖像,并將所述第二孔喉全集圖像和所述非水相孔喉CT圖像進行空間對準疊加處理,獲得所述觀測試樣的第一非水相孔喉圖像;
將所述第二孔喉全集圖像和所述第一非水相孔喉圖像進行差值處理,得到所述觀測試樣的第一水相孔喉圖像。
2.根據權利要求1所述方法,其特征在于,所述根據電子計算機斷層掃描CT技術,獲得觀測試樣的非水相孔喉CT圖像,包括:
根據所述CT技術,獲得被對比油浸沒后的第一觀測試樣的第一掃描圖像;所述第一掃描圖像中亮度大于或等于預設亮度閾值的第一像素點為所述觀測試樣的巖石骨架和所述觀測試樣的非水相孔喉;
根據所述CT技術,獲得流體清空后的第二觀測試樣的第二掃描圖像;所述第二掃描圖像中亮度大于或等于所述預設亮度閾值的第二像素點為所述觀測試樣的巖石骨架;所述第二觀測試樣為對所述第一觀測試樣進行流體清空后的試樣;
對所述第一像素點和所述第二像素點進行差值處理,得到所述觀測試樣的非水相孔喉CT圖像。
3.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:
根據所述CT技術,獲取所述觀測試樣的孔喉全集CT圖像。
4.根據權利要求3所述的方法,其特征在于,所述根據所述CT技術,獲取所述觀測試樣的孔喉全集CT圖像,具體包括:
根據所述CT技術,獲得被對比油浸沒后的第三觀測試樣處于飽和狀態時的第三掃描圖像;所述第三觀測試樣為對所述第二觀測試樣重新進行對比油浸沒處理后的試樣;所述第三掃描圖像中亮度大于或等于預設亮度閾值的第三像素點為所述觀測試樣的巖石骨架和所述觀測試樣的孔喉全集;
將所述第三像素點和所述第二像素點進行差值處理,得到所述觀測試樣的孔喉全集CT圖像。
5.根據權利要求4所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:
將所述孔喉全集CT圖像和所述非水相孔喉CT圖像進行差值處理,得到所述觀測試樣的水相孔喉CT圖像。
6.根據權利要求5所述的方法,其特征在于,所述根據所述第一孔喉全集圖像確定第二孔喉全集圖像,具體包括:
將所述孔喉全集CT圖像和所述第一孔喉全集圖像進行空間對準疊加處理,獲得所述第二孔喉全集圖像。
7.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述根據聚焦離子束掃描電鏡FIB-SEM技術,獲得所述觀測試樣的第一孔喉全集圖像,具體包括:
獲取注入氦氣的第四觀測試樣的氦氣孔隙度;其中,所述第四觀測試樣為對第二觀測試樣注入氦氣后的試樣;
根據FIB-SEM技術獲得所述觀測試樣的三維圖像;
根據所述氦氣孔隙度和預設的誤差閾值,獲得所述三維圖像的目標灰度閾值范圍;
根據所述目標灰度閾值范圍,從所述三維圖像中獲取所述第一孔喉全集圖像。
8.根據權利要求1-7任一項所述的方法,其特征在于,所述觀測試樣為在液氮環境下所獲取的觀測試樣。
9.根據權利要求2-6任一項所述的方法,其特征在于,所述對比油為二碘甲烷。
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