[發明專利]用于紫外光譜儀的校準光源、方法和校準光源有效
| 申請號： | 201610409357.4 | 申請日： | 2016-06-08 |
| 公開（公告）號： | CN105910705B | 公開（公告）日： | 2018-03-13 |
| 發明（設計）人： | 白生茂;曲丞世;張曉裴;潘娜;武帥;張國華;周德寶;梁旭東 | 申請（專利權）人： | 青島杰生電氣有限公司 |
| 主分類號： | G01J3/10 | 分類號： | G01J3/10;G01J3/28 |
| 代理公司： | 青島聯智專利商標事務所有限公司37101 | 代理人： | 王笑 |
| 地址： | 266101 山東省青*** | 國省代碼： | 山東;37 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 用于 紫外 光譜儀 校準 光源 方法 | ||
1.用于紫外光譜儀的校準光源，其特征在于，包括金屬殼體、恒溫模塊和紫外LED陣列；
所述紫外LED陣列封裝在所述恒溫模塊表面；所述金屬殼體上設置有透射紫外光窗口；
其中，所述紫外LED陣列包含多個峰值波長按照設定納米間隔遞增排列的紫外LED；且，多個紫外LED的光譜可疊加為連續光譜;
所述紫外LED陣列為兩組；且，兩組紫外LED陣列中，一組紫外LED陣列中所有紫外LED的峰值波長與另一組紫外LED陣列中所有紫外LED的峰值波長相互交叉排布;所述兩組紫外LED陣列的光譜中，光譜曲線交點位置的強度需大于任一峰值波長強度的30%。
2.根據權利要求1所述的用于紫外光譜儀的校準光源，其特征在于，每個紫外LED的峰值波長均介于200nm至400nm之間。
3.根據權利要求1所述的用于紫外光譜儀的校準光源，其特征在于，所述金屬殼體內還設置有低壓汞燈。
4.根據權利要求1所述的用于紫外光譜儀的校準光源，其特征在于，所述金屬殼體內部空間填充有惰性氣體、干燥空氣或氮氣。
5.用于紫外光譜儀的校準方法，其特征在于，使用如權利要求1-4任一項權利要求所述的用于紫外光譜儀的校準光源進行校準，包括如下步驟：
開啟所述用于紫外光譜儀的校準光源，以使得所述紫外LED陣列在所述恒溫模塊加熱后穩定在標稱溫度；
測量所述紫外LED陣列中每顆紫外LED的輻射能量以及所有紫外LED的輻射總能量，并在測量值與標稱值誤差大于閾值時執行校準；
測量所述紫外LED陣列中每顆紫外LED的峰值波長和/或半波寬，并在測量值與標稱值誤差大于閾值時執行標準。
6.根據權利要求5所述的用于紫外光譜儀的校準方法，其特征在于，在開啟所述用于紫外光譜儀的校準光源之后，所述方法還包括：
測量所述紫外LED陣列中設定波長段內每點波長對應的輻射能量和輻射總能量，并在測量值與標稱值誤差大于閾值時執行校準；
測量所述紫外LED陣列中所述設定波長段內每點的波長，并在測量值與標稱值誤差大于閾值時執行校準。
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