[發明專利]頻率合成裝置及使用其的自動校正方法有效
| 申請號: | 201610408373.1 | 申請日: | 2016-06-12 |
| 公開(公告)號: | CN107346972B | 公開(公告)日: | 2020-07-28 |
| 發明(設計)人: | 高榮穗;李致毅;陳力揚 | 申請(專利權)人: | 瑞鼎科技股份有限公司 |
| 主分類號: | H03L7/16 | 分類號: | H03L7/16 |
| 代理公司: | 中國商標專利事務所有限公司 11234 | 代理人: | 宋義興;張立晶 |
| 地址: | 中國臺灣新竹市*** | 國省代碼: | 臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 頻率 合成 裝置 使用 自動 校正 方法 | ||
1.一種頻率合成裝置,其特征在于,包含:
一壓控振蕩器,接收一調整信號,并根據該調整信號產生一輸出信號;
一回授除頻單元,具有多個除數值,接收該輸出信號,經除頻而產生一回授信號;
一自動頻率校正電路,包含:
一第一除頻單元,接收一參考頻率并產生一除頻參考頻率;
一第二除頻單元,接收該回授信號并產生一除頻回授信號;
一比較器,于一預設時段內接收并比較該第一除頻單元和該第二除頻單元的輸出,且產生一比較結果;
一狀態機,于一校正模式,根據該比較結果以輸出該調整信號;
其中,該校正模式包含一粗調模式,于該粗調模式,該狀態機設定該回授除頻單元自該些除數值中以一第一除數產生該回授信號,當該比較結果顯示該除頻回授信號相位落后該除頻參考頻率,該狀態機設定該回授除頻單元以一第二除數產生該回授信號,該校正模式更包含一細調模式,于該細調模式,設定該第二除頻單元除數值與該第一除頻單元除數值相等,當該比較結果顯示該除頻回授信號相位落后該除頻參考頻率,該狀態機輸出該調整信號,改變該壓控振蕩器的輸入電流及工作頻帶;當該比較結果顯示該除頻回授信號相位領先該除頻參考頻率,結束該細調模式。
2.如權利要求1所述的頻率合成裝置,其特征在于,于該粗調模式,當該比較結果顯示該除頻回授信號相位領先該除頻參考頻率,該狀態機固定該回授除頻單元的除數值,并結束該粗調模式。
3.如權利要求1所述的頻率合成裝置,其特征在于,于該粗調模式,設定該第二除頻單元除數值為該第一除頻單元除數值的一半。
4.如權利要求1所述的頻率合成裝置,其特征在于,更包含一相位頻率偵測器,經一開關裝置耦接該壓控振蕩器,且接收該參考頻率及該回授信號。
5.如權利要求1所述的頻率合成裝置,其特征在于,該第一除數與該第二除數皆為整數值,且該第一除數大于該第二除數。
6.一種頻率合成裝置的自動校正方法,其特征在于,該頻率合成裝置包含一壓控振蕩器、一回授除頻單元以及一自動頻率校正電路,該回授除頻單元具有多個除數值,該自動頻率校正電路包含一第一除頻單元及一第二除頻單元,該自動校正方法包含下列步驟:
于一粗調模式,設定該壓控振蕩器的控制電壓到參考電壓;
設定該回授除頻單元自該些除數值中以一第一除數產生一回授信號;
以該第一除頻單元接收一參考頻率并產生一除頻參考頻率;
以該第二除頻單元接收該回授信號并產生一除頻回授信號;
比較該除頻回授信號與該除頻參考頻率,并產生一比較結果;
當該比較結果顯示該除頻回授信號相位落后該除頻參考頻率,設定該回授除頻單元以一第二除數產生該回授信號;
于一細調模式,設定該第二除頻單元除數值與該第一除頻單元除數值相等;
比較該除頻回授信號與該除頻參考頻率,并產生該比較結果;
當該比較結果顯示該除頻回授信號相位落后該除頻參考頻率,則改變該壓控振蕩器的輸入電流及工作頻帶;
當該比較結果顯示該除頻回授信號相位領先該除頻參考頻率,結束該細調模式。
7.如權利要求6所述的頻率合成裝置的自動校正方法,其特征在于,當該比較結果顯示該除頻回授信號相位領先該除頻參考頻率,則固定該回授除頻單元的除數值,并結束該粗調模式。
8.如權利要求6所述的頻率合成裝置的自動校正方法,其特征在于,于該粗調模式,自動校正方法更包含:設定該第二除頻單元除數值為該第一除頻單元除數值的一半。
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