[發明專利]基于紋理特征和結構相似度的SAR圖像質量評估方法有效
| 申請號： | 201610407766.0 | 申請日： | 2016-06-12 |
| 公開（公告）號： | CN105931257B | 公開（公告）日： | 2018-08-31 |
| 發明（設計）人： | 候彪;焦李成;鞠貴林;王爽;張向榮;馬文萍;馬晶晶 | 申請（專利權）人： | 西安電子科技大學 |
| 主分類號： | G06T7/00 | 分類號： | G06T7/00;G06T7/40 |
| 代理公司： | 陜西電子工業專利中心 61205 | 代理人： | 田文英;王品華 |
| 地址： | 710071*** | 國省代碼： | 陜西;61 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 基于 紋理 特征 結構 相似 sar 圖像 質量 評估 方法 | ||
【權利要求書】：
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于西安電子科技大學，未經西安電子科技大學許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201610407766.0/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
