[發明專利]一種用于測量深低溫強磁場下樣品光致發光的系統有效
| 申請號： | 201610406776.2 | 申請日： | 2016-06-12 |
| 公開（公告）號： | CN105911029B | 公開（公告）日： | 2018-10-19 |
| 發明（設計）人： | 呂蒙;俞國林;林鐵;褚君浩 | 申請（專利權）人： | 中國科學院上海技術物理研究所 |
| 主分類號： | G01N21/63 | 分類號： | G01N21/63 |
| 代理公司： | 上海新天專利代理有限公司 31213 | 代理人： | 郭英 |
| 地址： | 200083 *** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 用于 測量 低溫 磁場 樣品 光致發光 系統 | ||
【權利要求書】：
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