[發(fā)明專利]用于解析離子源進樣裝置的舉靶頂靶機構在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610405698.4 | 申請日： | 2016-06-12 |
| 公開（公告）號： | CN106066360A | 公開（公告）日： | 2016-11-02 |
| 發(fā)明（設計）人： | 劉召貴;徐鵬登;周立 | 申請（專利權）人： | 江蘇天瑞儀器股份有限公司 |
| 主分類號： | G01N27/64 | 分類號： | G01N27/64 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 215347 江蘇省蘇州市昆*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 用于 解析 離子源 裝置 舉靶頂 靶機 | ||
【說明書】：
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