[發(fā)明專利]基于干涉的接觸角光學(xué)測(cè)量方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201610404157.X | 申請(qǐng)日： | 2016-06-08 |
| 公開(kāi)（公告）號(hào)： | CN106092832B | 公開(kāi)（公告）日： | 2018-10-02 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 董華來(lái);楊興;鄭泉水;宋一鳴 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 清華大學(xué) |
| 主分類號(hào)： | G01N13/02 | 分類號(hào)： | G01N13/02 |
| 代理公司： | 北京聿宏知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11372 | 代理人： | 吳大建 |
| 地址： | 100084 北京市海淀區(qū)1*** | 國(guó)省代碼： | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書(shū)： | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū)： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 基于 干涉 接觸角 光學(xué) 測(cè)量方法 | ||
【說(shuō)明書(shū)】：
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