[發(fā)明專利]測試參數(shù)處理方法、裝置及測試器

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201610397901.8
• 申請日: 2016-06-07
• 公開（公告）號: CN107483105A
• 公開（公告）日: 2017-12-15
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 柏煜軒
• 申請（專利權(quán)）人: 中興通訊股份有限公司
• 主分類號: H04B10/071
• 分類號: H04B10/071
• 代理公司: 北京康信知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司11240
• 代理人: 江舟,董文倩

1.一種測試參數(shù)處理方法，其特征在于，包括：

確定測試事件所在位置與測試器之間的測試距離；

根據(jù)所述測試距離，確定所述測試器發(fā)射的用于對所述測試事件進(jìn)行測試的脈寬；

根據(jù)確定的所述測試距離，確定的所述脈寬，以及用于確定所述測試器的測試參數(shù)的預(yù)定規(guī)則，確定所述測試器的測試參數(shù)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在確定所述測試事件所在位置與所述測試器之間的所述測試距離之前，還包括：

根據(jù)對所述測試事件進(jìn)行測試的預(yù)先存儲的測試結(jié)果，確定所述測試事件所在的位置。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，根據(jù)所述測試距離，確定所述測試器發(fā)射的用于對所述測試事件進(jìn)行測試的所述脈寬包括：

根據(jù)所述測試距離，確定滿足所述測試距離的脈寬范圍；

根據(jù)確定的所述脈寬范圍，確定所述脈寬。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在根據(jù)確定的所述測試距離，確定的所述脈寬，以及用于確定所述測試器的測試參數(shù)的預(yù)定規(guī)則，確定所述測試器的測試參數(shù)之前，還包括：

確定對所述測試事件進(jìn)行測試的測試類型對應(yīng)的所述預(yù)定規(guī)則。

5.根據(jù)權(quán)利要求1至4中任一項所述的方法，其特征在于，所述測試參數(shù)包括以下至少之一：光纖折射率、發(fā)送間隔、累加長度、發(fā)送次數(shù)、累加次數(shù)、開始累加時間、抽樣間隔。

6.一種測試參數(shù)處理裝置，其特征在于，包括：

第一確定模塊，用于確定測試事件所在位置與測試器之間的測試距離；

第二確定模塊，用于根據(jù)所述測試距離，確定所述測試器發(fā)射的用于對所述測試事件進(jìn)行測試的脈寬；

第三確定模塊，用于根據(jù)確定的所述測試距離，確定的所述脈寬，以及用于確定所述測試器的測試參數(shù)的預(yù)定規(guī)則，確定所述測試器的測試參數(shù)。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，還包括：

第四確定模塊，用于根據(jù)對所述測試事件進(jìn)行測試的預(yù)先存儲的測試結(jié)果，確定所述測試事件所在的位置。

8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述第二確定模塊包括：

第一確定單元，用于根據(jù)所述測試距離，確定滿足所述測試距離的脈寬范圍；

第二確定單元，用于根據(jù)確定的所述脈寬范圍，確定所述脈寬。

9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，還包括：

第五確定模塊，用于確定對所述測試事件進(jìn)行測試的測試類型對應(yīng)的所述預(yù)定規(guī)則。

10.一種測試器，其特征在于，應(yīng)用于光時域反射計OTDR測試系統(tǒng)，所述測試器包括權(quán)利要求6至9中任一項所述的裝置。