[發明專利]真空環境下的光譜反射率原位測試系統有效
| 申請號： | 201610380063.3 | 申請日： | 2016-06-01 |
| 公開（公告）號： | CN105806810B | 公開（公告）日： | 2019-09-10 |
| 發明（設計）人： | 張鵬嵩;張燚;劉高同;李竑松;龔潔;李高;向艷紅 | 申請（專利權）人： | 北京衛星環境工程研究所 |
| 主分類號： | G01N21/55 | 分類號： | G01N21/55 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 100094 *** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 真空 環境 光譜 反射率 原位 測試 系統 | ||
【權利要求書】：
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