[發明專利]一種用于批量測量的測量機夾具

有效

• 申請號: 201610374558.5
• 申請日: 2016-05-31
• 公開（公告）號: CN105953757B
• 公開（公告）日: 2017-11-03
• 發明（設計）人: 成拓衡;余壘;豆海峰
• 申請（專利權）人: 成都飛機工業（集團）有限責任公司
• 主分類號: G01B21/00
• 分類號: G01B21/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及一種測量機夾具，尤其涉及一種能夠批量測量的測量機夾具。

背景技術

隨著計算機輔助設計、制造以及自動化加工技術的發展，零件形狀越來越復雜，精度要求越來越高，型面特征越來越多。現多用三坐標測量機對零件的復雜外形、型面及位置公差進行測量。測量機測量的工作流程如下： 找正測量原點→導入測量數據、設置偏差值→打點測量→分析測量結果。其中步為測量準備階段。成批生產的零件，每測一個零件都要重復進行以上四部操作，重復操作多，測量效率低。

公開號為CN102155928A，公開日為2011年8月17日的中國發明專利申請公開了一種用于葉片三坐標測量機的夾具及測量坐標系建立的方法。在夾具體的上表面有V型榫槽，并且該V型榫槽的楔形面與葉片榫根的楔形面完全吻合。V型榫槽位于夾具體寬度的中心線上。頂緊螺釘位于夾具體長度和寬度的對稱中心上。在建立葉片三坐標測量機夾具的測量坐標系時，通過三點建立一個坐標平面，通過兩點連線在該坐標平面上投影建立一個坐標軸，一個點確定坐標原點，從而快速、準確地建立葉片的測量坐標系，并且矩形的夾具體能夠快速將測量坐標系從葉片榫根部轉換到夾具體上，減少了葉片測量過程中建立測量坐標系的時間和難度。該發明具有結構簡單，安裝方便，定位精度高，可多次裝拆而不影響定位精度，可以實現葉片的批量測量，提高了葉片測量的效率。但是該發明只能專用于葉片的夾緊測量，通用性較差。

發明內容

為了克服上述葉片三坐標測量機夾具存在的通用性差，適用范圍窄的缺陷，本發明提供了一種用于批量測量的測量機夾具，該測量機夾具能夠用于所有具有“一面兩孔”零件的定位，通用性更強，適用范圍更廣，而且能夠減少測量過程中找正次數，縮短測量準備時間，提高大批量零件復雜外形和型面的測量效率。

本發明為解決上述技術問題所采用的技術方案是：

一種用于批量測量的測量機夾具，其特征在于：包括底板、滑塊、第一定位銷和第二定位銷，所述底板上置有滑槽，滑槽內設置有第一定位孔，所述第一定位孔至少為兩個，所述滑塊上設置有第二定位孔，所述滑塊至少為兩個，滑塊安裝在滑槽內，滑塊能夠在滑槽內滑動。

當第一定位銷穿過零件和第一定位孔且第二定位銷穿過零件和第二定位孔后，零件被定位，定位后測量機即可測量零件。

所述滑槽至少為一條，同一條滑槽內至少設置有一個第一定位孔。

同一條滑槽內的第一定位孔為三個以上時，第一定位孔等間距設置。

同一條滑槽內至少安裝有一個滑塊。

所述滑槽為兩條以上，滑槽間相互等間距且平行設置。

所述滑槽為T形滑槽，所述滑塊為T形滑塊。

所述第二定位孔的孔徑設置有多種規格。

所述底板的邊緣設置有連接孔。

一面兩孔定位即利用一個平面和兩個與平面垂直的孔組合實現完全定位。廣泛應用于箱體、支架、連桿和機體類工件。兩孔可以是專為工藝定位需要而加工的定位孔，也可以是工件上原有的孔。

與現有技術相比，本發明具有以下有益效果：

1、本發明包括底板、滑塊、第一定位銷和第二定位銷，所述底板上置有滑槽，滑槽內設置有第一定位孔，所述第一定位孔至少為兩個，所述滑塊上設置有第二定位孔，所述滑塊至少為兩個，滑塊安裝在滑槽內，滑塊能夠在滑槽內滑動。本發明的滑塊在滑槽內滑動，就能根據零件的尺寸調節第二定位孔與第一定位孔之間的距離。定位時，只需讓第一定位銷穿過零件的其中一個孔和第一定位孔且第二定位銷穿過零件的另外一個孔和第二定位孔，零件被定位。本發明用于測量具有“一面兩孔”定位特征零件的復雜外形、型面，通過多個零件的等間距安裝，對測量點位進行陣列，一次裝夾可完成多個零件的測量，裝夾方便，不需重復找正。滑塊具有良好的互換性和易拆卸的特點，使用時可更換具有不同孔徑的滑塊，提高了該夾具的應用范圍。若在某次測量中，本發明一次可安裝零件數量為n，相比于用常規方式測量n個零件，本發明節省時間為n-1次準備時間。由此可見，利用這種裝置可大幅提高具有“一面兩孔”定位特征零件的復雜外形和型面的測量效率。本發明普遍實用具有“一面兩孔”定位特征的零件的測量，并不局限于葉片的測量，通用性更強，測量范圍更廣。

2、本發明滑槽至少為一條，同一條滑槽內至少設置有一個第一定位孔。同一條滑槽內的第一定位孔為三個以上時，第一定位孔等間距設置。同一條滑槽內至少安裝有一個滑塊。所述滑槽為兩條以上，滑槽間相互等間距且平行設置。通過這樣的設置，本發明可批量測量零件，能夠大大縮短具有“一面兩孔”定位特征零件的復雜外形和型面，大大提高了測量效率。