[發明專利]一種長波紅外光譜儀的光譜定標方法

有效

• 申請號: 201610371363.5
• 申請日: 2016-05-30
• 公開（公告）號: CN106092320B
• 公開（公告）日: 2017-11-17
• 發明（設計）人: 陳艷;王廣平;王淑華;徐文斌;張亞洲
• 申請（專利權）人: 北京環境特性研究所
• 主分類號: G01J3/42
• 分類號: G01J3/42
• 代理公司: 北京君恒知識產權代理事務所(普通合伙)11466
• 代理人: 黃啟行,張璐

1.一種長波紅外光譜儀的光譜定標方法，其特征在于，所述方法包括：

S1、通過所述光譜儀采集黑體處于N個溫度值下的測試數據；其中，在第i溫度值T_i下所述黑體的測試數據為S_1,i，i＝1,…N，N為大于1的整數；

S2、將聚丙烯薄膜包覆在所述黑體表面，以構成第二測試體；并且，在黑體處于N個溫度值時，通過所述光譜儀采集第二測試體的測試數據；其中，在第i溫度值下第二測試體的測試數據為S_2,i；

S3、根據N個溫度值下黑體的測試數據、以及第二測試體的測試數據對所述光譜儀的光譜位置進行定標。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述光譜儀為干涉型長波紅外光譜儀，所述測試數據具體為干涉數據。

3.如權利要求2所述的方法，其特征在于，步驟S3包括：

S31、對N個溫度值下黑體的干涉數據進行傅里葉變換，以獲取N個溫度值下黑體的光譜數據；對N個溫度值下第二測試體的干涉數據進行傅里葉變換，以獲取N個溫度值下第二測試體的光譜數據；其中，在第i溫度值下黑體的光譜數據為L_1,i、在第i溫度值下第二測試體的光譜數據為L_2,i；

S32、在每一溫度值下，對第二測試體以及黑體的光譜數據取差值，以獲取聚丙烯薄膜的特征吸收峰的位置曲線，并且，根據所述位置曲線確定每一特征吸收峰的位置坐標；其中，在第i溫度值下第j個特征吸收峰的位置坐標為r_i,j，j＝1,2,3；

S33、對于每一特征吸收峰，計算其在N個溫度值下的位置坐標的平均值

S34、根據對所述光譜儀的光譜位置進行定標。

4.如權利要求3所述的方法，其特征在于，步驟S34包括：根據第一個特征吸收峰的參考光譜位置ν1,0、以及第一、二個特征吸收峰的位置坐標的平均值確定第二個特征吸收峰的標定光譜位置；

根據第一個特征吸收峰的參考光譜位置ν_1,0、以及第一、三個特征吸收峰的位置坐標的平均值確定第三個特征吸收峰的標定光譜位置。

5.如權利要求4所述的方法，其特征在于，根據公式2確定第二、三個特征吸收峰的標定光譜位置；

式中，v_k為第k個特征吸收峰的標定光譜位置，k為2或3。

6.如權利要求5所述的方法，其特征在于，溫度值T_i滿足：

30℃≤T_i≤100℃。

7.如權利要求1-6任一所述的方法，其特征在于，所述黑體的輻射面尺寸為8cm×8cm，發射率為0.96，最高溫度為100℃。

8.如權利要求7所述的方法，其中，N＝3，T₁＝60°，T₂＝70°，T₃＝80°。